XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器
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XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器

H、L、PCBXRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器

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￥ 10000 1件

具体成交价以合同协议为准
2023-07-22 17:46:03
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深圳市仟锂马科技有限公司

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产品简介

XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器，X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

详细介绍

铜上镀银测厚仪XRF-2020膜厚仪


检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量



XRF-2000镀层测厚仪


XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。

型号详情图.png

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能



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