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新品 X-射线测厚仪精度(XRF-2020L)
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检测电子电镀,化学电镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡等。
可测单层,双层,多层,合金镀层。
MicropioneerXRF-2000测厚仪测试范围
镀金:0.03-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀锌:0.5-30um
镀锌镍合金:0.5-30um
应用:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度。
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度。
电镀测厚仪XRF-2000:
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度。
可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等。
可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测。
方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。
XRF-2000电镀测厚仪
可用于测量工件、PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。
只需要10-30秒即可获得测量结果, 小测量面积为直径为0.2mm的圆面积。
测量范围:0-35um。
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量。
XRF-2000电镀测厚仪的特征
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量。
避免直接接触或破坏被测物。
薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。
此外,也适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
MicropioneerXRF-2000测厚仪
应用检测镀层厚度,可测单双镀层及合金镀层。
适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。可测金,镍,铜,锌,锡,银,锌镍合金等镀层。
应用广泛,适应电镀生产企业,产品来料检测等。
原产地:韩国
品牌:Micropioneer微先锋
型号:XRF-2000已升级为XRF-2020
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台面载重3kg
韩国XRF-2020X射线镀层测厚仪