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新品 X-射线测厚仪精度(XRF-2020L)
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韩国先锋XRF-2020
仪器整机,配置全自动台面,自动雷射对焦,多实现多点自动测量
型号如下图
XRF-2020镀层测厚仪X射线膜厚仪
原产地:韩国
品牌:Micropioneer微先锋
型号:XRF-2020
适应于各类五金电镀,电子连接器端子等。
可测金,镍,铜,锌,锡,银,钯,铑,铂,锌镍合金等镀层。
应用广泛,适应电镀生产企业,产品来料检测等。
XRF-2020测厚仪
仪器特点:
全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。
功能及应用:
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚。
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等。
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等。
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层,铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等。
X射线电镀测厚仪韩国先锋XRF-2020
测量精度:
表层:±5%以内,第二层:±10%以内,第三层:±15%以内。
韩国Miceopioneer
XRF-2020测厚仪型号规格
L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
XRF-2020韩国先锋X射线镀层测厚仪
仪器整机,配置全自动台面,自动雷射对焦,多实现多点自动测量。