新品 X-射线测厚仪精度(XRF-2020L)
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H、L、PCB新品 X-射线测厚仪精度(XRF-2020L)

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产品简介

X-射线测厚仪精度(XRF-2020L)

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。

不限底材。

如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材

多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材

合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材

详细介绍

X-射线测厚仪精度韩国XRF-2020

表层:±5%以内

第二层:±10%以内

第三层:±15%以内

韩国微先锋XRF-2020

标牌:Micro Pioneer  微先锋

货号:

XRF-2020H

XRF-2020L

XRF-PCB三款

XRF-2020L型:

测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型

测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

原产地:韩国

品牌:Micropioneer微先锋

型号:XRF-2000已升级为XRF-2020


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应用:电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

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