X'Pert³ MRD 高分辨X射线衍射仪

XPert³ MRDX'Pert³ MRD 高分辨X射线衍射仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-09-13 09:47:08
238
产品属性
关闭
上海德竹芯源科技有限公司

上海德竹芯源科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

高分辨率X射线衍射仪，主要用途为测量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半导体材料的单晶和外延层材料的结晶完整性，外延层及相应半导体器件结构的组分、厚度、弛豫度等参数的测定，外延结构的晶格失配及应变状态分析，X-Y map均匀性分析，双轴晶和三轴晶X射线衍射，对称和非对称扫描，Out-of-plane 和 In-plane 衍射扫描等。

详细介绍

设备功能

● 倒易空间扫描(RSM) – 一分钟完成自动扫描及自动分析

● 高分辨衍射(HRXRD) – W/2T，2T/W，2T……扫描

● 摇摆曲线(Rocking Curve) – W 扫描

● 反射率(XRR) – 材料密度，厚度，粗糙度(Option)

● 晶格参数(Lattice parameter)，晶向(Orientation)及晶面鉴定(Reflection plane)

● 切角(Off-Cut)及平辺方向(Flat)鉴定

● 晶体缺陷鉴定(Defect)

● 曲率半径鉴定(Curvature)

● 应力(Strain)及弛裕度(relaxation)鉴定

● 晶格失配率鉴定(Mismatch)

● 成份分析，厚度分析

上一篇：石膏板在线检测成套设备研发总结 下一篇：如何利用计算机视觉进行物体检测？
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话：