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适用范围Widely used：
1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，
3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，
4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，
功能描述Description：
1. 四探针单电测量方法
2. 液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.
3. 集成电路系统、恒流输出.
4. 选配：PC软件进行数据管理和处理.
5. 提供中文或英文两种语言操作界面选择
参照标准：
1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
型号及参数
规格型号 | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
1.方块电阻范围 | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×105Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×104Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×104Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×106Ω-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×105Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×105Ω-cm |
3.测试电流范围 | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA， | 10μA，100µA，1mA， | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA， | 10μA，100µA， 100mA | 0.1μA，1μA，10μA，100µA， | 1μA，10μA，100µA， |
4.电流精度 | ±0.1% | ±0.2% | ±0.2% | ±0.3% | ±0.3% | ±0.3% |
5.电阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.显示读数 | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 | |||||
7.测试方式 | 普通单电测量 | |||||
8.工作电源power | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W | |||||
9.误差errors | ≤4%（标准样片结果 ） | |||||
10.选购功能 | 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻 | |||||
11.测试探头 | 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针 | |||||
步骤及流程
1. 开启电源，预热5分钟.
2. 装配好探头和测试平台.
3. 设定所需参数.
4. 测量样品
5. 导出数据.
优势描述：
1. 自动量程
2. 高准确稳定性.
3. 双电组合测试方法
4. 标准电阻校准仪器
5. PC软件运行
6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.
7. 最多可显示5位有效数字.
8. 中、英文界面
部分客户案例
济南展雄电子有限公司
青岛启东电子设备有限公司
福建万龙金刚石工具有限公司
杭州晶鑫镀膜包装有限公司
丹东海浩电子科技有限公司
杭州晶鑫镀膜包装有限公司
华南理工大学
远东福斯特新能源有限公司
南方科技大学
福建省泉州万龙实业有限公司
苏州环明电子科技有限公司
石家庄军械学院
天津仪恒达科技有限公司
南昌公瑾科技有限公司
木森林股份有限公司
北京瑞亿斯科技有限公司
浙江纳沛新材料有限公司
深圳市中科测仪电子科技有限公司
宁波恩迈智能科技有限公司
北京慧远伟业科技有限公司
中山市广卫消费设备有限公司
成都万成科技有限公司
河北德凯铁路信号器材有限公司
海南冷港科技有限公司
浙江世泰实业有限公司
南昌公瑾科技有限公司
上海蒙健实业有限公司
北京雪迪龙科技股份有限公司
艺奥品成像技术苏州有限公司
安徽师范大学
广西兴宏源科技有限公司
浙江立德产品技术有限公司
株洲麦格米特电气有限公责任公
江阴市中兴光电实业有限公司
江苏仪征电子管有限公司
北京思普特科技有限公司
