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BKTEM-D5型塞贝克系数和电阻系数测试系统
¥110000HTIM-1001A高温电阻测试仪
¥111BKTEM-DX型热电性能测试平台
¥111****航天大学高分子压电薄膜中试线方案
¥111ZJ-3A/B型压电测试仪
¥111TCR-1200型金属材料高温电阻测试仪
¥111MTDL-1000型高温金属熔融电导率测试装置
¥111TEGS-1000型热电器件转换效率测试系统
¥111HTIM-1600型1600℃超高温绝缘电阻测试仪
¥111FE-5001型铁电参数测试仪/PUND测试
¥111HTRC-800型高温导电材料电阻率测试系统
面议PRPM-1000热释电系数高温测试系统
面议JKZC-BMZD01型薄膜介电常数(ε)及损耗测试仪(tgd)
关键词:介电常数(ε),损耗测试仪(tgd),品质因数(Q),频率(f)
JKZC-BMZD01型薄膜介电常数(ε)及损耗测试仪(tgd)是目前针对PVDF薄膜材料,是一款真正意义上的绝缘薄膜材料介电常数及介质损耗测试仪。是目前能够处理的介电常数(ε)和介损(tgd)的图谱。GB/T1693-2007主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器,互感器,变压器,各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗( tgd)和电容量( Cx)以,其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成,本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损(tgd)及介电常数(ε)。
JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备,测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具,通过软件可以采集到介损(tgd)及介电常数(ε)器件的介电性能测量与分析,可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律:电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数,同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和损耗参数。
三电极结构设计:
微调千分尺:微调千分尺具备0.001mm的调节精度,可精细化调节上下电极之间的距离。
平行板测试电极:下电极固定在底部支撑座,上电极可由微调千分尺调节行程距离。上电极带有保护电极。
上电极片:上电极标配有2mm球头电极、φ26.8mm圆片电极和φ38mm圆片电极。可根据样品大小随时更换。
锁紧装置:当样品放入上下电极之间后,可调节此锁紧装置,固定上下电极的调节行程。防止轻微移动引起的刻度偏差。
严格按照ASTM D150国际标准设计,电极表面镀金处理,导电性能好、抗氧化,使用寿命更长
一、真正的三电极设计
介电夹具基于ASTM D150标准试验方法,采用三电极法设计。上电极+下电极+保护电极,电极表面镀金处理,导电性能好、抗氧化。为消除测试连接线阻抗及连接线之间相互耦合对测试的影响,仪器与夹具电极连接采用4端对法。
得益于测试线缆和电极引线的良好屏蔽,屏蔽层直达测试电极,因此获得更高的校准频率。
2.校准频率Z高可达100MHz
适配的阻抗分析仪更加丰富,充分利用测试仪器的测试频率范围(20Hz-120MHz),以满足测试样品对更高频率的要求。
3.高精度调节行程
适配高精度微调千分尺,可调精度为0.001mm,
上电极可调行程为12mm,并带有锁紧装置,可有效锁定当前刻度位置,确保测试的稳定性和准确性。
标配26.8/38mm尺寸电极片,可满足不同尺寸样品测量,样品安装方便、简单
主要技术参数:
1、测试频率:DC~100MHz
2、样品要求:双面涂覆电极,保持平整、光滑
3、样品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10mm
4、电极圆片:无。有效面积:样品上下涂覆电极垂直重叠部分面积
5、误差分析:存在边缘电容,样品表面凹陷处被导电体填充
6、测试接口:4个SMA母头
7、上电极:φ2mm球头电极+φ26.8mm圆片电极+φ38mm圆片电极
8、保护电极:上电极带保护电极,电极表面镀金
9、上电极压力调节:12mm行程调节,用于上电极与样品良好的电性能接触
10、带电极样品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10m
11、设计标准:ASTM D150和D2149-97国际标准,GB/T1409-2006国家标准
12、电极结构:两平行板电极+保护电极,三电极结构
13、电极引线:同轴屏蔽线,消除电磁干扰对测试影响
14、下电极:φ60mm镀金圆片电极
15、上电极行程调节:12mm行程调节,用于样品安装
16、数据存储:数据库保存各类实验数据,同时输出TXT、XLS、BMP等格式文件,对实验数据提供丰富的查询与分析,输出图形与数据。