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面议FE-5001型铁电参数测试仪/PUND测试
关键词:电滞回线,疲劳Fatigue,漏电流LM,电流-偏压
FE-5001型铁电参数测试仪/PUND测试是一款功能丰富的铁电参数测试仪/PUND测试,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。
铁电参数测试主要性能指标:
a. 外接5 kV高压放大器;
b. 动态电滞回线测试频率范围0.01 Hz ~ 1 kHz;
c. z大电荷解析度:10 mC;
d. 疲劳测试频率300 kHz(振幅10 Vpp,负载电容1 nF);
e. 漏电流测量范围 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;
f. 配有高压击穿保护模块。
本测试系统由主控器、高压放大器、变温综合测试平台(配铁电测试盒)或高低温探针台(配高压探针)、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了可编程波形发生器、内置驱动电压、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能,主控器提供扩展外置高压放大器接口,可扩展±5 kV或±10 kV的高压放大器。系统软件包括可视化数据采集和管理功能,测试时,无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,IV等性能测试。
本铁电参数测试仪/PUND测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法,与传统的Sawyer- Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度。
该系统测试功能:
动态电滞回线DHM
I-V特性
脉冲PUND
疲劳Fatigue
漏电流LM
电流-偏压。