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北京飞凯曼科技公司提供2维平面成像应力双折射测试仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
我们针对相位差差别比较小的样品，要求测量速度高的应用，专门开发了PA系列小相位差高速型应力双折射测试仪，其关键是测量速度快。
技术参数：
型号 | PA-110 | PA-110-L | PA-micro |
特点 | 快速型 | 大面积型 | 显微型 |
典型应用 | 玻璃、蓝宝石、SiC、GaN等晶体 | ||
传感器 | 标准偏振成像传感器 | ||
成像像素 | 约97万像素 | ||
测量范围 | 0-130nm | ||
重复性 | <1.0nm | ||
测量波长 | 520nm | ||
尺寸 | 310x395x605.5mm | 450x538x915.5mm | 240×400×530mm |
观测到的zui大面积 | 11×14 至100×136mm | 14×18至230×300mm | 100×130至1000×1300μm |
重量 | 18kg | 24kg | 10kg |
应用领域：
玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等
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