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MH400-IR近红外显微镜

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苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年,是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像,自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。

详细信息

MH400-IR近红外显微镜光源是不可见——光红外线,它是能穿透1mm以内硅材料,主要用于半导体行业对于芯片隐裂、倒装芯片、MEMS器件等无损检测。

MH400-IR近红外显微镜

MH400-IR近红外显微镜基本配置

1、显微镜机架:含前置底位粗微同轴调焦机构

2、照明器:带视场光阑和孔径光阑

3、红外观察筒:含红外相机接筒

4、红外灯箱:12V100W卤素灯

5、红外物镜

Olympus LMPLN5XIR:5X/0.10 ,W.D. 23;

Olympus LMPLN10XIR:10X/0.30, W.D.23;

Olympus LCPLN20XIR:20X/0.45, W.D.8.3,带校正环;

Olympus LCPLN50XIR:50X/0.65, W.D.4.5,带校正环。

6、物镜转换器:5孔手动(可选配电动)。

7、IR400近红外相机

●大靶面,1/2英寸靶面;

●高分辨率:2048×2048,420万像素,

●含拍照、测量软件

●真实色彩还原:所见即所得级别的色彩还原,ΔE<3;

●低噪声,高灵敏度:低至2e-读出噪声;

●深度制冷:二级TEC制冷,可达环境温度以下10°C;

●独立密封舱设计:有效防止相机长时间低温工作时出现结露;

●内置大容量图像缓存:2Gb图像缓存,确保传输稳定性。

8、红外截止片:1100nm

9、载物台

移动行程X*Y:12*12英寸

10、晶圆转盘:选配

11、电脑:品牌台式机,I5处理器/8G内存/480G固态硬盘/21.5寸LCD

应用案例图片

CSP/SIP的非破坏检查

CSP/SIP的非破坏检查   

Vcsel芯片隐裂(cracks)

Vcsel芯片隐裂(cracks) 

die chip 失效分析

die chip 失效分析 

以上是简单介绍,汇光科技MH400-IR近红外显微镜有现货供应,干兴趣的朋友可以来我司先试样,或者我司直接送样机去贵司试样,期待能早日合作。

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