变频抗干扰介损测试仪

HV9003A HV9003B HV9003C HV9003D变频抗干扰介损测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2015-11-23 22:40:47
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扬州市拓腾电气有限公司(原扬州市苏博电气有限公司)

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产品简介

HV9003A-D系列高压变频抗干扰介质损耗测试仪是一种采用数控变频技术的测量介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)的智能化仪器。可以在工频高压下,现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切(tgδ)和电容值

详细介绍

产品名称:变频抗干扰介损测试仪

产品型号:HV9003A,HV9003B,HV9003C,HV9003D

制造单位:扬州市苏博电气有限公司

主要功能:

HV9003A-D系列高压变频抗干扰介质损耗测试仪是一种采用数控变频技术的测量介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)的智能化仪器。可以在工频高压下,现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)。与西林电容电桥相比,仪器为一体化结构,内置介损电桥、标准电容和升压装置,体积小、重量轻,便于携带,具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗*力强等优点。

产品特点:

HV9003A-D系列高压变频抗干扰介质损耗测试仪是一种采用数控变频技术的测量介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)的智能化仪器。可以在工频高压下,现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)。与西林电容电桥相比,仪器为一体化结构,内置介损电桥、标准电容和升压装置,体积小、重量轻,便于携带,具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗*力强等优点。

技术指标:

性能 产品名称 HV9003A HV9003B HV9003C HV9003D
常规介损测量范围及精度 tgδ:0~100%,±(1%读数+0.00040)
Cx:3pF~60000pF/10kV,50pF~1μF/0.5kV,±(1%读数+1pF)
zui小分辨率:tgδ:0.001%,Cx:0.001pF
CVT自激法低压输出 输出电压:0~50V,zui大输出电流:30A
低压屏蔽反接线功能
变比测量范围及精度 10~9999.9,±0.5%
相位测量范围及精度 ±179.99°,±0.02°
阻性电流测量范围 0~20mA
高压介损功能 需要配升压装置 谐振升压,自动测量绘制V-tgδ
满足200kV及以下电压等级小容量
设备(≤1000pF)的高压介损测试
额定工作条件 -10℃~50℃,30℃~90℃
AC 180V~270V,50Hz/60Hz±1%,市电或发电机供电
测量时间 与测量方式有关,有快速/正常/精确三档可选择
试验电流范围 10μA~5A
内施高压范围 0.5kV~10kV,可任意设置
试验频率 40.0Hz~70.0Hz范围内任意单频或双频,频率精度:±0.01Hz
打印存贮 具有打印功能,并可以将数据保存至仪器(100组)或U盘内
外形尺寸(MM) 440×330×336 450×370×325
重量(kg) 24.5 27.5

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