日前，由中国科学技能大学工程科学学院黄文浩传授掌管制定的规范“扫描探针显微镜漂移测量办法”已由规范化组织正式发布。
自20世纪80年月扫描探针显微镜创造以来，因为其具有原子量级的分辩才能黄文浩传授近二十年来不断从事纳米技能与精细仪器范畴的研制任务。在2006年，他向规范化组织ISO/TC201（外表化学剖析技能委员会）提出了“扫描探针显微镜漂移速度测量办法规范”的提案，目标是要将SPM任务时纳米/秒的漂移巨细和偏向测量出来，以标准这类仪器的运用办法。2007年该提案正式立项，黄文浩传授被为该项目任务组的召集人。经由四年多的起劲，SPM漂移测量办法规范的zui终草案于2011年经全体成员国投票后顺畅经过，并于2012年正式发布。
该规范界说了描绘SPM在X、Y和Z偏向的漂移速度的专业术语，规则了SPM漂移速度的测量办法和测量顺序，对仪器的功用和任务情况以及测量申报内容均作了严厉要求。该规范为SPM仪器出产厂家制订了漂移速度的有用参数规格，而且能协助用户调查仪器的不变性，以便设计有用的实行。该规范不只合用于基于SPM测量图像的漂移速度评价办法，对其它纳米级测量仪器不变性的评价也有着主要参考价值。
*地促进了纳米科学技能的开展，并已逐渐构成了一种高新技能财产。SPM的任务道理是经过细小探针在样品外表进行扫描，将探针与样品外表间的互相效果转换为外表描写和特征图像。因为扫描速度较慢，漂移景象在扫描进程中遍及存在，这制约了SPM在纳米测量和纳米加工方面的进一步使用。

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