X射线镀层测厚仪提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的*性和高品质。

高分辨率的硅漂移器（SDD）

开槽式超大样品舱设计

8个准直器

USB接口与计算机连接

  我们的牛津X射线镀层测厚仪 金属镀层测厚仪 金属镀层分析仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。

        MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱，针对较薄而复杂的样品，具有*的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。

亮点

采用微聚焦X射线光管，实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低

采用高分辨率的硅漂移探测器（SDD），提供能量级别的*效率，极低的检出限（LOD）

多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率

开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品

“USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件

德国制造，符合zui高工程标准，坚固耐用的设计可实现*可靠性

通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足zui高辐射安全标准

性能及符合性

zui多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正

同时实现多于25种元素的定量分析

检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证

开槽式大样品台

可编程的XY样品台

样品腔体积：500 × 450 × 170 mm

创新的防撞设计 

可编程的样品台

预定位激光技术

zui大化的样品台行程范围及速度

自动测量

软件及校准

基于WindowsTM 7操作系统，直观的软件MaxxControl

选择经验校准以实现zui大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准

成分分析：可自由选择元素；厚度测量：可自定义镀层结构

对RoHS和贵金属进行工厂预装校准（可选）