一、仪器的用途：

XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业zui常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，该仪器采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定，对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温，控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。

类 别

放大倍数

视场（mm）

平场目镜

10X

φ18

分划目镜

10X

φ18

类 别

放大倍数

数值孔径（NA）

盖玻片厚度（mm）

无应力平场消色差

物镜

4X

0.10

-

10X

0.25

-

40X

0.65

0.17

60X

0.85

0.17

三、系统简介

偏光熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、*的光电转换技术、*的计算机图像处理技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

四、热台：

1.显微精密控温仪
在 20X 物镜下工作温度可达到zui高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数