DIC微分干涉工业显微镜JXM-4100

特点

DIC微分干涉工业显微镜JXM-4100是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。

参数

特点说明

1． 采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。

2． 拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法，DIC并在

每一观察法中均提供高清晰的图像质量。

3． 采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。

4． WF10×（Φ25）超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜。

5． 可插DIC微分干涉装置的转换器。