奥林巴斯红外显微镜BX53M IR
品牌
其他厂商性质
所在地
英菲洛精密科技（苏州）有限公司
组合推荐相似产品
奥林巴斯BX53M IR红外观察显微镜
可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
IR物镜可用于透过硅材料成像，进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外（IR）物镜，提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜，配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜，校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。
红外显微镜应用
首页
展台
留言
收藏
联系方式
请选择您要拨打的电话：
