日立分析仪器宣布推出一款坚固的手持式X 射线荧光光谱仪(XRF) — X-MET8000，该仪器能够对土壤中的污染元素进行高精度、高可靠性的鉴定。日立分析仪器的手持式X 射线荧光光谱仪誉满，X-MET7000 是其第五代产品。

　　这款拥有日立分析仪器PentaFET® 探测器技术的仪器，保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。

　　X-MET8000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。

　　国家立法严格保护土壤质量，使得土壤中重金属鉴定日显重要，同时，通过预先分拣受污染的土壤也可以大幅度降低垃圾填埋的费用。这款新产品可在数秒内完成对“可疑污染区域”的分析，十分便捷高效。

　　其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果，从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET8000 能够识别材料类型，并自动选择分析方法。

　　借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。

　　使用手持式X射线荧光光谱仪在进行土壤筛选，可以有效降低实验室分析的成本，并迅速作出决策。

　　l 精确测定重金属和其他有毒元素只需要几秒钟

　　l 4.3”市面的屏幕，呈现最清晰的结果

　　l 快速分析，快速采取补救措施

　　l 用户自定义上下限，结果合格/不合格清楚显示

　　l GPS装置将分析数据和位置坐标结合起来

　　l 可直接在土壤上或样品袋里分析

　　l 只需要制备很少的样品，结果质量能与实验室分析媲美，可放在选配的工作台支架上进行分析

　　l 能非常准确地鉴定超过25种元素，包括V,Cr,Co,Cu,Ni,Zn,As,Se,Mo,Ag,Cd,Pb,Hg,Sb等

　　l X-MET7000和X-MET7500*符合EPA6200方法要求

　　l 现场可创建和保存密码保护的PDF结果报告

　　l 经久耐用的设计，适合于各种恶劣的环境和气候条件

　　l 高强度密封型抗冲击外壳设计

　　l 经IP54(NEMA3)认证，超的防尘、防水、特性

　　l 橡胶保护套可保护仪器屏幕、前段和电池，可以避震并防止仪器从倾斜工作面滑落

　　l 从酷热到严寒，X-MET总是能表现出性能

　　l 轻便、坚固、防水的保护箱，方便运输和储存

　　l 集成GPS/GIS导航系统

　　X-MET8000系列与美国Trimble和其他GPS导航系统品牌公司优化合作，提供用户站点地图分析结果和地方数据，帮助用户做出化的决定。