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产品名称:粗糙度轮廓仪-T8000SC
产品详情:
使用高分辨率数字式探测系统同时记录粗糙度参数和 轮廓特征值,并且在一个流程中进行评价。因此,该测 量系统为测量室和加工现场的高要求测量任务提供了 解决方案。 此系统性价比,应用广泛,性能堪与复杂的实验室 测量系统媲美。
HOMMEL-ETAMIC surfscan 系统特征:
1. 通用测量站,既可用于测量室,也可用于生产现场的质量检验
2. 模块化设计,可进行量身定做的个性化测量站配置
3. 可交互操作的软件,在一份个性化设计的测量报告内组合评价粗糙度和轮廓特征值
4. 粗糙度和轮廓共用一个探测系统
5. 由于量程大,无需将探测系统和工件表面对齐
6. 测量斜面和曲面粗糙度时,6 mm量程内具有 6 nm 分辨率
7. 测头臂配置磁性支架,更换快速且安全
8. 粗糙度和轮廓评价软件具有广泛的选项功能
9. 可配置其它探测系统拓展应用范围,如配置wavecontour™ digital / digiscan 探测系统放大轮廓量程,或配置粗糙度测头用于特殊的粗糙度测量
HOMMEL-ETAMIC surfscan 技术亮点:
1. 同时测量粗糙度和轮廓,节约时间
2. 重复精度高
3. 测量粗糙度时省却了耗时的基准面对齐步骤
4. RFID 技术保证了测头臂的自动识别和测量参数的正确设置