X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，至今仍然是研究得广泛、深入、成熟的内应力测量方法之一，被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。然而长期以来，大家使用的都是基于一维探测器的测量方法。2012年日本Pulstec公司开发出世界基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n，将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度，设备推出不久便得到业界的广泛好评。

相较于传统的X射线残余应力测定仪，新一代μ-X360n便携式X射线残余应力分析仪具有以下优点：

更快：二维探测器一次性采集获取完整德拜环，单角度一次入射即可完成测量，全过程平均约90秒。

更精确：一次测量可获得500个数据点进行残余应力数据拟合，结果更精确。

更轻松：无需测角仪，单角度一次入射即可，复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

更方便：测量精度高，无需冷却水，野外工作无需外部供电。

更强大：具备区域应力分布测量成像（Mapping）功能，晶粒大小、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

传统点/线探测器和全二维面探测器原理对比：