极低的杂散光 结合光路设计技术实现分光光路与传感器的匹配，同时结合FCT技术，并将NIST杂散光校正技术辩证结合，使杂散光水平比原有水平降低超过一个数量级。 高灵敏度 采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器，背照式CCD传感器，具有内部TE致冷、BINNING等you良特性。 多种型号选择满足你不同的应用需求： 工业级采用CS-1000光谱仪，该系统价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化，可溯源的光谱标准灯可以在380-780纳米的范围内方便的进行内部系统校准和验证工作。 实验级采用CS-4000光谱仪，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间zui短达到3.8毫秒--you效地避免探测器饱和.而且CS-4000的信噪比可以达到300:1,光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。 科研级采用CS-6500光谱仪，采用二维像素阵列探测器。像素列的叠加使得信噪比da大提升（1000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为高速。TE制冷型探测器（zui低至-15 °C）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。
CS系列分光辐射度计 规格
*亮度和色度的测量基于雷云光电条件下(使用标准LCD显示屏(6500K, 9300K))
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。
