TG-61320C两箱式冷热冲击试验箱仪器设备用途：

冷热冲击试验箱根据待测试样的特殊性，分为两箱式幼态冲击和三箱式静态冲击，本产品既可作冷热冲击实验，也可以做单独高温或单独低温使用。广泛使用于航空航天、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等，同时可通过此试验，进行产品的质量控制。

TG-61320C两箱式冷热冲击试验箱产品特点：

1： 泰规仪器生产的新一代冷热冲击试验箱（2箱），箱体结构、制冷系统、控制技术均有较大的技术改革，运行更可靠，维护更方便。

2：制冷机采用原装进口“泰康”或“ 比泽尔”。

3：控制系统采用彩色触摸屏中英文显示按键式操作，外观更加简单大方，操作设定简单。

4：提篮在高低温室内切换转移，采用气动控制，转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，设备整体结构紧凑，体积小，采用两箱法，提高了工作室的温度均匀程但试件一直处于动态，工作室不能留有测试孔，因此不能带电、带信号、带气源测试。

5：高低温冲击试验箱配备: SD卡储存，USB输出，电脑连接打印，大舱有纸无纸记录等选配。

6：箱体加工采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。壳体采用优质碳素钢板.磷化静电喷塑处理或（选配）SUS304不锈钢雾面线条发纹处理，内部材质均采用SU304高级不锈钢材质。

7：冷热冲击试验箱配备大型观测视窗附国际品牌照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

TG-61320C两箱式冷热冲击试验箱适用于标准:

1：GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件；

2：GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB/T 150.5-86 设备环境试验方法 第5部分 温度冲击试验。

6：GB11158-2008高温试验箱技术条件:

7：GB10589-2008低温试验箱技术条件

8：GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）

9：GJB150.3A-2009装备实验室环境实验方法第3部分：高温实验

10：GJB150.4A-2009装备实验室环境实验方法第3部分：低温实验

TG-61320C两箱式冷热冲击试验箱技术参数：