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进口高精度涂镀层测厚仪EPK 740
产品介绍
进口高精度涂镀层测厚仪EPK 740探头内置外置可换，让用户使用更加灵活，涂镀层测厚仪Minitest 740更换不同探头既可测小工件，薄涂层，也可厚涂层，大测量到15mm。
进口高精度涂镀层测厚仪EPK 740特点
SIDSP使测量不受干扰，测值更加
可更换探头使用更加灵活（EPK 740探头可由内置换为外置）
FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
菜单指引操作，25种语言可选
带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
可下载更新软件
进口高精度涂镀层测厚仪EPK 740探头
| F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
技术参数
| EPK 720 | EPK 730 | EPK 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | 多10,000个 | 多10,000个 | 多100,000个 |
统计值 | 读值个数，小值，大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
校准程序符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
限值监控 | 声、光报警提示超过限 | ||
测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
标准配置：
带塑料手提箱，内含：
或EPK740主机（不含探头，有各种探头可选）
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
2节AA电池
选购件
F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
