CM-8856分体式双用干膜测厚仪采用分体式探头，具有磁性和涡流两种测量方法，自动识别探头，可用于磁性和非磁性材料表面涂层厚度检测。

    CM-8856分体式双用干膜测厚仪与CM-8855具有同等功能，他们的区别在于CM-8855干膜测厚仪采用内置探头，而CM-8856则采用分体式探头，分体式探头由于体积小，因此可轻易的深入各种狭小或者缝隙场合，特别适合一些小工件、内部管道等材料表面涂层厚度检测。具体使用要求用户可根据自己的测量需求选择不同型号满足自己的测量需求。

    CM-8856干膜测厚仪带有统计功能，因此能够自动计量平均值、*大值、*小值等参数，该仪器采用电池供电，因此可以满足携带到各种生产现场的测量需求，双功能干膜测厚仪测厚仪，相当于买了一台铁基干膜测厚仪和一台非铁基干膜测厚仪，具有更高的性价比。

技术参数