FISCHER X-RAY系列X射线荧光测厚仪

专为测量PCB板和晶圆而设计的仪器

菲希尔（FISCHER）专为测量PCB和晶圆设计的X射线荧光测厚及材料分析仪

FISCHERSCOPE XUL稳定和低成本的X射线荧光测厚仪，用于非破坏性的金属分析和涂层厚度测量

FISCHERSCOPE XULM X射线测厚仪，用于对小部件进行非破坏性的材料分析和涂镀层厚度测量，如银层测厚、金层测厚

FISCHERSCOPE XAN220/222 X射线荧光测量仪，用于快速、无损地分析黄金和银合金

FISCHERSCOPE XAN250/252高性能X射线荧光测量仪，配有**进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

FISCHERSCOPE XDL X射线测厚仪带有可编程的 X/Y台和Z轴，用于自动测量涂镀层厚度和材料分析，如铜厚测量及铬层测厚等

FISCHERSCOPE XDLM X射线荧光测厚仪，用于对电路板、电子元件和批量零件的涂层厚度进行手动或自动测量，也适用于小型结构

FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测量仪带有可编程的 X/Y台和Z轴，用于自动测量涂镀层厚度和材料分析

FISCHERSCOPE XDV-SDD满足高要求的 X 射线荧光测试仪，带有可编程的 X/Y 工作台和 Z 轴，用于自动测量极薄的涂层和进行印痕分析

FISCHERSCOPE XDV-µ X射线荧光测厚仪，配有多毛细孔 X 射线光学系统，可自动测量和分析微小部件及结构上镍钯金镀层厚度和成分。

FISCHERSCOPE XUV773 X射线荧光测量仪带有真空室，通用型**设备测量具有全面的测量能力

FISCHERSCOPE X-RAY4000 X射线荧光测量系统，用于在光滑的和压印的（包括带有铸模接触面）带钢生产工艺中进行连续的在线测量和分析

FISCHERSCOPE X-RAY5000 X射线荧光测量系统，用于在生产工艺中对较薄的镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe 进行连续的在线测量和分析

校准标准片 X射线测厚仪专用校准标准片

WinFTM 软件 适用于所有 FISCHERSCOPE X-RAY 型 X射线荧光测量系统的软件

以上都是FISCHER X-RAY系列X射线荧光测厚仪推荐。XRAY(即X射线)荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。X射线测厚仪、X射线荧光法、XRAY测厚测量系统。

　　X射线测厚仪原理

　　XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

　　X射线测厚仪适用范围

　　XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。