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JK-CH600190-XRD冷热台 JK-CH600190-XRD冷热台
JK-XRD原位冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式,提供-190~600℃(选型)或RT~1000℃(选型)温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究,适配现有各种X-射线衍射仪(布鲁克、赛默飞、理学等)。产品需要与温度控制器、致冷控制器(选配)配套使用,配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集,提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。 产品特点: 温度范围-190~600℃(选型)/RT~1000℃(选型) 温度稳定性±0.1℃(<600℃)±1℃(>600℃) 衍射角0~164° X射线视窗Kapton膜 支持反射/透射模式 密腔室设计,可升级真空腔室(10^(-3) mBar) 可更换上盖,作为普通冷热台使用 可调节高度,满足不同厚度样品测试更换上盖,可用作光学冷热台,实现一机多用 详细参数一览表:
产品应用: 搭配理学X射线衍射仪 ↓
搭配赛默飞X射线衍射仪 ↓
搭配布鲁克X射线衍射仪 ↓
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