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| 温控样品池支架（光谱分析用） |
精确温度制冷控制：-10.00 to +105.00 oC(±0.02 oC) (特殊产品可降至-55.00 oC或者升至+150.00 oC)
产品特点： l 制冷控制可实现快速、准确地温度控制 l 快速提升温度，然后缓慢靠近设置区域 l 工作温度范围非常宽 l 能够自动改变温度 l 电磁搅拌使样品更加均匀 l 多样品池支架并且实现样品自动转换 l 热敏探头记录样品内部温度 qpodTM 光纤光谱仪配套样品池支架 qpodTM 样品池支架应用于光纤光谱仪，包括带电磁搅拌的Peltier控制的样品池支架。qpodTM 样品池支架通过SMA905光纤接头与光源或者光谱仪相连接。具有如下特点： l 高品质的石英透镜，紫外增强反射镜和偏振片 l 光学部件的焦距和位置可调 l 光学狭缝用于控制进入样品室的光能 l l 速度可调电磁搅拌 qpodTM 样品池支架有CUV-qpod-ABSKIT、CUV-qpod-FLKIT和CUV-qpod-MPKIT三款样式。CUV-qpod-ABSKIT提供准直光，用于吸收测试、透射测试或者浊度测试。CUV-qpod-FLKIT提供直角成像透镜系统，用于荧光测试。CUV-qpod-MPKIT是一款多用途的光学支架，可以用于吸收测试或荧光测试。滤光片和偏光镜架可选配。 TLC 40 用于吸收测量的单样品池支架 TLC 40样品池支架主要应用于吸收光谱测量，在放置比色皿两旁有两个光学端口。具有如下特点： l 可以满足各种不同的分光光谱仪 l 可调电磁搅拌确保样品均匀 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 l 工作于较低温度条件，可选窗口翻盖 TLC 42 用于双光束光谱仪的两样品池支架 TLC 42为双光束样品池支架，类似于两个单独控制的TLC40单样品池支架。具有如下特点： l 采样与参考可以是相同或不同温度 l 每个样品池支架具有电磁搅拌 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 l 工作于较低温度条件，可选窗口翻盖 TLC 50 用于荧光测量的两样品池支架 TLC 50样品池支架主要应用于荧光光谱测量，在放置比色皿四面均有光学端口。具有如下特点： l 可以满足各种不同的荧光光谱仪 l 包括一套可选狭缝，以控制激光发射强度 l 可调电磁搅拌确保样品均匀 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 TURRET 400 用于吸收和荧光测量的四位旋转样品池支架 TURRET 400样品池支架可以应用于吸收光谱和荧光光谱测量，可以实现四位旋转。具有如下特点： l 可以满足各种不同的分光光谱仪和荧光光谱仪 l 包括一套可选狭缝 l 可调电磁搅拌确保样品均匀 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 l 四位对称相同，保证分析样品一致 FLASH 300 用于激光测试的样品池支架 FLASH 300样品池支架非常适用于激光测试，可以应用于瞬态吸收、荧光和脉冲激光测试。在放置比色皿四面均有光学端口。具有如下特点： l 垂直调整，可以与激光束的高度相匹配 l 水平微控制器驱动，可以将激光束准确定位在比色皿中 l 插销可移除，以实现与比色皿直接接触 l 可调电磁搅拌确保样品均匀 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 l 工作于较低温度条件，可选窗口翻盖 CD 250 用于圆形二色性测试的样品池支架 CD 250样品池支架用于圆形二色性测试。具有如下特点： l 根据不同比色皿，可以定制不同支架 l 可调电磁搅拌确保样品均匀 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 l 通过热交换充入气体，以隔离外部空气 l 无应变石英窗片用于隔离比色皿，更好地控制温度，特别是对于短光程比色皿 l 用于激发光的90度端口可选，以实现荧光测试 LC 600 用于线性可选吸收测试的样品池支架 LC 600是Quantum Northwest的样品池支架产品，具有线性可选的6位比色皿样品架，应用于吸收测试。具有如下特点： l 马达驱动选择6位样品架 l 每一样品架狭缝开口可选 l 可调电磁搅拌确保样品均匀 l 工作于低温条件，可用干气体减少冷凝 温度控制器
TC 125温度控制器具有如下特点： l 美国NIST校准标准 l 标准热敏探头监控样品温度 l 可实现远程控制
每个温控样品池支架均包括一个基于微计算机的温度控制器。对于特殊样品池支架进行增益设置，并且由NIST标准的温度计进行校准。 对于单样品池支架，比如TLC 40，TLC 50，FLASH 300和CD 250，选择TC 125温度控制器。 对于双样品池支架，比如TLC 42，选择TC225温度控制器，以实现对两个试管进行独立控制。 对于四位旋转样品池支架，比如TURRET 400，选择TC 425温度控制器，该控制器前面板中有对应位置的控制按钮。 对于线性可选六位样品池支架，比如LC 600，选择TC 125温度控制器，并由外部控制软件来实现样品移动。 所有温度控制器均提供外部温度传感探头，以实现样品温度的监控。温度控制器可以与标准400系列和500系列的热敏探头。 温度控制器可以通过USB通讯线与计算机相连。如果想要实现远程控制，可以选配QNW系列控制选项。
产品选择指导 l 温度范围 标准化产品的温度控制范围为-10 to +105 oC（±0.02 oC），特殊样品池支架可以定制。低于-10 oC时，就需要通入干气体已降低样品池支架窗口的冷凝。如果需要更低的温度，请来电详细咨询。 l 高温操作 如果TLC 40或者TLC 50型号后面带有/E标志，可用于高于105 oC的环境。此时，需要温度控制器中特殊固件来实现样品池支架底部热敏组件的转换。虽然不应该长期在高温环境中使用，但是高至150 oC还是可能的。 l 外部串行控制 通过与电脑连接的串行通讯线可以对温度控制器进行控制。除非特别说明，否则提供的是标准USB连接线。通过温度控制器前面板中的控制按钮，外部串行控制能够实现文件说明功能，包括：作图、温度提升、脚注功能。当选配SER 2.2时，TC 125温度控制器可以通过USB通讯线来实现计算机控制。SER 2.2组件包括Windows程序、QNW串行控制，主窗口如图所示。在主窗口中，可以设置温度、调整温度、电磁搅拌控制，并且可以收集探头和样品池支架的温度。
l BATH 100由潜水泵、塑料桶和配件组成，为样品池支架提供循环水。当样品温度比较低时，需要循环水或其它液体进行冷却。注意：BATH 100和BATH 100/OS已经包含在Varian和Ocean Optics的样品池支架中。 l 光学端口高度 所有样品池支架的光学端口标准高度是（除了CD 250）8.5mm。对于TLC 40，TLC 42，TLC 50或者TURRET 400样品池支架，只需额外加点费用，可以将光学端口高度增至15mm。请来电详细咨询。 l 改装光谱系统 所有的样品池支架均可用于基本的测试系统，并且任一样品池支架，只需额外加点费用，均可实现与特定光谱仪器配套使用。光谱仪器典型的测试配件包括： l 样品池支架光学端口高度 l 光谱仪配套的基板尺寸和孔模式 l 其它：电插头、适配器、水和气体附件
目前，QUANTUM NORTHWEST公司有80多种改装样品池支架，请参考如下信息。并且，只需额外加点费用，QUANTUM NORTHWEST可以为特殊光谱仪测试系统提供定制服务。
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