AFM标准样品

CITOPRESS 镶样机

CITOPRESS 热室

A15系列数位可调干燥柜

拉曼增强试剂

SEM 耗材

GGB有源高阻抗针尖

GGB直流探针

4英寸纳米压印机 NIL-100

半自动晶圆键合仪

柱状模板

BI-2500 台式表面等离子共振仪

Estable主动隔振台

X2E系列数位可调干燥柜

nGauge便携式原子力显微镜

NX10 高精度原子力显微镜

电镜原位偏压加热系统

高精度电子束曝光系统

MPI Titan射频探针

VertiSense 扫描热学显微镜

XE-15 大样品台工业原子力显微镜

原位拉伸台

聚合物笔印刷

原位纳米力学测试系统Nano Indenter® G200

原子层沉积系统ALD产品

MDO34示波器

原位AFM in SEM

X1系列数位可调干燥柜

脉冲激光沉积系统（PLD）

主动隔振台AMT

主动隔振台ARISTT

主动隔振台ARISMD

被动隔振SOTOTT

被动隔振台GWA-M

被动隔振台GWA-TO

主动隔振台PMT

被动隔振台GWA-TM

6英寸纳米压印机NIL-150

徕卡M系列立体显微镜LeicaM165FC/205FA

S系列立体显微镜

徕卡M系列立体显微镜LeicaM125/165C/205C/205A

FT-NMT04纳米力学性能测试系统

ACCUTOM-10/-100切割设备

Z系列立体显微镜Leica Z6 APO

CITOVAC

定制型隔振系统

TEM耗材

徕卡高真空溅射镀膜仪 Leica EM SCD500

X射线图

TS150-HP 高功率探针台

Scanwave 扫描微波近场阻抗显微镜

DVM 5000三维视频显微镜

TS150 6寸手动探针台

4200A-SCS参数分析仪

Vista-IR 高分辨纳米红外成像与光谱系统

阴极荧光成像光谱探测系统

徕卡自动修块抛光机 Leica EM TXP

BI-4500 高通量全自动表面等离子共振仪

ADR低温恒温干式mK系统

Leica DCM 3D 三维测量显微镜

NX12 生物型原子力显微镜

Leica DVM2500 徕卡数字显微镜

MVI散射式扫描近场光学显微镜

MVI原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统

光谱型椭偏仪

SERS芯片基底

MTA03 综合三维纳米力学操纵系统

NX-Wafer 全自动晶圆检测原子力显微镜

NX-HDM 全自动缺陷检测原子力显微镜

NX-PTR 全自动在线检测原子力显微镜

Candela CS920表面缺陷检测仪

Duramin-40硬度计

F60 全自动膜厚测试仪

F30 在线膜厚测试仪

F40显微膜厚测量仪

F50/F54 自动膜厚测量仪

膜厚测量仪

F20单点膜厚测量仪

F3 单点膜厚测试仪

液体颗粒度仪-LPC

Novascan紫外臭氧清洗仪

徕卡多功能离子束研磨仪 Leica EM RES102

DM 2500P全手动式专业偏光显微镜

原位MEMS芯片和同步辐射Holder

DM750P专业偏光显微镜

Diener FEMTO等离子清洗机

DM 4500P半自动智能数字式偏光显微镜

徕卡室温超薄切片机 Leica EM UC7

Leica DM2500M正置金相显微镜

金相显微镜

P7 晶圆探针式轮廓仪/台阶仪

Profilm 3D光学轮廓仪

D600 高精度探针式轮廓仪/台阶仪

Zeta20 多模式三维光学轮廓仪

Zeta-300 多模式光学轮廓仪

Zeta-388 自动多模式光学轮廓仪

P170 全自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪

P17 自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪

D500 高精度台阶仪

D300 经济型高精度台阶仪

原位纳米压痕仪

iMicro高精度微纳米压痕仪

iNano高精度台式纳米压痕仪

Nano Flip原位纳米压痕仪 SEM/AFM/LM

高温原位纳米压痕仪

In-SEM HT高温原位纳米压痕仪

内应力检测仪

无掩膜激光直写

Explorer 电子束、磁控、热蒸发 薄膜沉积

DV-502 热蒸发薄膜沉积

Desktop Pro薄膜沉积-磁控溅射

BenchTop Turbo热蒸发和样品制备

Desk V 薄膜沉积解决方案

精密玻璃切割机(桌面型）

激光制样

ezAFM-便携式原子力显微镜

高温3D打印机

方块电阻测试仪

光学表面缺陷分析仪

多功能无掩膜激光直写

LABOTOM-5/-15切割设备

纳米压印胶

高精度纳米拉伸系统Nano UTM T150

RSA5000系列频谱分析仪

TTR500系列矢量网络分析仪（VNA）

MTA02微力位移测试操纵系统

PA1000功率分析仪

TS2000 自动探针台

TS200 8寸手动探针台

TS2500-RF 全自动射频探针台

TS50手动小型探针台

TS2000-DP 高功率探针台

TS200-HP 高功率探针台

XE-7 经济型原子力显微镜

LiteScope 电镜原位多功能原子力显微镜

SPRm200 表面等离子共振显微镜

NX20 高精度全自动大面积原子力显微镜

AFM校准标样

Minitom切割设备

EZ系列立体显微镜

3英寸纳米压印机 NIL75

TS300 12寸手动探针台

MicroXAM800 白光干涉仪

TS3000 自动探针台

NX-Hivac 高真空原子力显微镜

棱镜耦合仪

孔状模板

AFM探针

AFM基底

离子束刻蚀/沉积系统

GGB校准标样

Quantifoil多孔载网

GGB微波探针

MPI Titan射频配件

光栅模板

X射线菲涅耳波带板（FZP）

EUV/X射线反光镜

NX-3DM 可旋转全自动原子力显微镜

Nano observer 电学原子力显微镜

EM-AFM 电镜原位原子力显微镜

S100型数字源表