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采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器，背照式CCD传感器，具有内部TE致冷、BINNING等优良特性。
多种型号选择满足你不同的应用需求：
工业级采用CS-1000光谱仪，该系统价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化，可溯源的光谱标准灯可以在380-780纳米的范围内方便的进行内部系统校准和验证工作。
实验级采用CS-4000光谱仪，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间最短达到3.8毫秒--有效地避免探测器饱和.而且CS-4000的信噪比可以达到300:1,光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。
科研级采用CS-6500光谱仪，采用二维像素阵列探测器。像素列的叠加使得信噪比大大提升（1000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器（至-15 °C）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。
| 型号 | CS-1000 | CS-4000 | CS-6500 |
| 探测器范围 | 350-800纳米 | 350-1050纳米 | 350-1100纳米 |
| 传感器 | CMOS传感器 | 东芝TCD1304AP线性CCD阵列 | 热电制冷CCD（薄型背照式） |
| 像素 | 1024像素 | 3648像素 | 1044×64像素 |
| 波长范围 | 350-800纳米 | 350-1050纳米 | 350-1100纳米 |
| 信噪比 | 150：1 | 300：1全光谱 | 1000:1全光谱 |
| A/D分辨率 | 14位 | 16位 | 16位 |
| 积分时间 | 3.8毫秒-10秒 | 3.8毫秒-10秒 | 8毫秒-15分钟 |
| 杂散光 | <0.05% | <0.05% | <0.05% |
| 校正线性度 | >99.8% | >99.8% | >99.8% |
| 色温范围 | 1500-35000K | 1500-35000k | 1500-35000K |
| 色度精度 | ±0.0003（标准A光源） | ±0.0003(标准A光源) | ±0.0003(标准A光源) |
*亮度和色度的测量基于雷云光电条件下(使用标准LCD显示屏(6500K, 9300K))
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。
