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GSL-1000激光颗粒分布测量仪 | (测量范围:0.1~600微米) |
序号 | 项目 | 性能指标 | 序号 | 项目 | 性能指标 |
1 | 测量范围 | 0.1~600 微米 | 7 | 激光器 | 半导体激光器,功率5mW |
2 | 重复性 | <±0.5%(标样,Dv50值) | 8 | 通讯端口 | USB 接口 |
3 | 复现性 | <±0.75%(标样,Dv50值) | 9 | 进样方式 | 微量进样装置 |
4 | 系统误差 | <±1%(标样,Dv50值) | 10 | 样品池容积 | 40 ml |
5 | 测量原理 | 全程Mie散射理论 | 11 | 搅拌速度 | 100~800转/分钟,连续可调 |
6 | 采样通道 | 前向70通道,双侧向8通道 | 12 | 外形尺寸 | 575x295x251(mm) |
测量结果准确性好 | |||
测量原理为全程Mie Scattering理论,结合本公司*的反演算法,加之精密的机械、光学系统设计、*的电子元器件,在理论和性能上保证了测量结果的准确性。 | |||
测量范围宽 | |||
前向散射光接收采用本公司技术交叉扇形大尺寸主光电探测阵列(70个通道)、高灵敏度双侧向光电探测阵列(每侧4个通道),使单透镜测量范围达0.1~600μm,可测量D50从300~400nm直至400~500μm的众多样品,以满足大多数用户对粒度测量范围的需要。 | |||
测量重复性好 | |||
仪器设计采用高灵敏度光电探测阵列,低噪声信号放大器,高位模拟数字转换器,保证电路部分噪声降至。使用进口半导体激光器(寿命长达25000小时)及本公司自行研制的激光准直系统,激光光斑能量分布均匀,形状规则。进样系统具有转速调节装置,保证样品在测量窗口中分布均匀。以上种种措施确保仪器测量结果具有良好的重复性。 | |||
测试速度快 | |||
高速采样系统,采样速度达到4500次/秒;全隔离USB2.0通讯接口,提高了通讯速度;采用微量进样系统,样品制备过程简单,清洗速度快。一般在20秒之内,就可以完成一次测试过程。 | |||
测量软件功能完备 | |||
仪器采用电脑进行实时控制,自动完成数据采集、分析处理、结果保存和打印等功能,操作简单,自动化程度高。测量软件具有SOP功能,数据库功能以及多种数学模型,功能完备,操作简单,易学易用。 |