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SWIR系列还可用于无损检测 (NDT) ，以检测材料焊接中的杂质。
技术参数
参数 FAST S800 FAST S2k 像素大小 20 μm x 20 μm 光谱带 0.9 μm to 1.7 μm opt.: 0.4 μm to 1.7 μm (VisNIR) 空间分辨率 640 × 512 pixels 帧频(全窗模式) 865 Hz 1730 Hz 帧频(子窗口模式) 33 000 Hz @ 32 x 32 150 000 Hz @ 32 x 4 曝光时间 1 µs up 40 ms @ 25 oC sensor temperature (high gain mode)
参数 | FAST S800 | FAST S2k |
像素大小 | 20 μm x 20 μm | |
光谱带 | 0.9 μm to 1.7 μm opt.: 0.4 μm to 1.7 μm (VisNIR) | |
空间分辨率 | 640 × 512 pixels | |
帧频 (全窗模式) | 865 Hz | 1730 Hz |
帧频 (子窗口模式) | 33 000 Hz @ 32 x 32 | 150 000 Hz @ 32 x 4 |
曝光时间 | 1 µs up 40 ms @ 25 oC sensor temperature (high gain mode) | |
