英国abi-AT256集成电路筛选测试仪可达测试管脚数:256

测试适用范围：

元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试

电路板测试-适用各种电路板的检测（附加测试电缆线和各种封装的测试夹）

英国abi-AT256集成电路筛选测试仪测试原理（V-I曲线测试）：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

AT256内图1

商品输入检验

不需要电子知识.

适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定各种测试条件.

可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

提供多达256个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。

用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。

•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

AT256内图2

数据库

用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较

• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,

2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

报告

1）软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。

2）用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。

3）为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。