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AWG/CWDM4/PLC芯片bar条自动耦合测试系统 AWG/CWDM4/WDM系列产品（透、反射）自动对光耦合系统 WDM/PLC/Athermal AWG在线监测系统
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WDM/FBT综合测试系统WDM/FBT综合测试系统
充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。 参考价面议 -
TSL-550Santec TSL-550 O波段可调光源
Santec采用了腔体设计实现了更低的ASE噪声，将信噪比特性提到90dB/0.1nm，
同时兼顾了超过10dBm的光输出功率。是光器件尤其是密集型波分复用类的无源器件、波长选择开关（WSS）等需要兼顾功率计噪声影响的高要求产品测试的理想选择。
TSL-550相对上一代产品将重复扫描所需时间减半，另外，还可以通过我司的功率计、偏振控制器等实现WDL、PDL等参数的测试。 参考价面议 -
耦合测试系统Coupler综合自动测试系统
一次接线，同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试，支持高低温测试.
一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪，节约硬件成本。 参考价面议 -
平面波导耦合系统平面波导耦合系统
平面波导耦合对光半自动/半自动系统，主要应用于CWDM4,Splitter， AWG&VOA，硅光芯片耦合. 参考价面议 -
Bar Tester耦合系统Bar Tester耦合系统 巴条耦合测试系统
Bar tester耦合对光半自动耦合主要应用于，条状芯片测试 参考价面议 -
CWDM4芯片自动耦合系统AWG/CWDM4芯片自动耦合系统
1.2 测试参数
1. 自动计算 ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长（1dB，3dB等）、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。
2. 自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。 参考价面议 -
AQ6370DYokogawa AQ6370D 光谱仪
波长范围：600~1700nm
· 高波长精度：±0.01nm
· 高波长分辨率：0.02nm
· 大动态范围：78dB（典型值）
· 宽功率量程：+20~-90dBm
· 快速测量：0.2秒（100nm跨度）
· 适用于单模和多模光纤 参考价面议