AWG/CWDM4芯片自动耦合系统

1.2  测试参数

1.  自动计算 ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长（1dB，3dB等）、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。

2.  自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。

3.  失效参数自动区分并标识。

4.  系统软件兼容各种可调光源（Agilent，santec，uc等）和各种带 trigger功能的功率计。

5.  测试界面显示每个通道的光谱 trace数据，并且可以做到自由缩放，供工程师实时分析产品数据，支持谱线另存为图片功能。

6.  支持产品灵活测功能，调出之前测试数据，单独重测任意某通道并进行更新覆盖。

7.  支持条码扫描，支持和MES系统对接。  支持规格自动判定等级进行分类操作。

8.   根据客户需求进行二次开发其他测试功能。     

9.  测试原始数据和测试结果通过微软 SQL Server 数据库保存，海量存储。

10.数据导出和报表功能强大，能快速按条件批量导出数据供工程师进行工艺和来料分析。

11.支持SN号进行前端耦合工序和测试工序员工的计件统计报表功能。

1.        耦合技术参数