双模测试卡- 双模测试卡定制 LTE+CDMA测试卡 GSM+CDMA测试

GSM双模测试卡、CDMA双模测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE测试卡、4G测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试。常用于GSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE、4G产品，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对产品进行无干扰综合测试；产品在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到产品的*路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。GSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE测试卡、4G测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。

二．产品适用的测试仪器的品牌：

双模测试卡- 双模测试卡定制 LTE+CDMA测试卡 GSM+CDMA测试

适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。

三：产品*：

LTE+CDMA测试卡 GSM+CDMA测试

　　我们公司的GSM、CDMA测试卡，2G双模测试卡采用*半导体厂商生产的芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切产品.、配以COS系统，全面遵从3G产品，SIM卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部产品。），芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.

我公司产品经国家集成电路卡注册中心*使用进口三星等若干芯片[*范围：S3C89K8(KS88C92008)
S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及*IC卡质量监督检验中心检验合格，具有性的*。