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Namicro-3 热电参数测试系统
- 型号
- Namicro-3
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详细信息
热电参数测试系统产品特点
拥有独立知识产权，获得多项技术。
采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
炉壳过温报警，自动断电保护。
友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。
热电参数测试系统测试实例
1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比
2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比
3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比
4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）
热电参数测试系统技术参数
| 型号 | Namicro-3LT |
| 温度范围 | RT~800°C |
| 温控方式 | PID程序控制 |
| 升温速率 | 50°C/min |
| 真空度 | ≤50Pa |
| 测试气氛 | 真空 |
| 测量范围 | 泽贝克系数：S ≥ 8µV/K； 电阻率：0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m |
| 分辨率 | 泽贝克系数：0.05µV/K； 电阻率：0.05µΩ•m |
| 相对误差 | 泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
| 测量模式 | 自动 |
| 样品尺寸 | 块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm |
| 主机尺寸 | 1000 x 400 x 500，单位mm |
| 重量 | 75kg |
热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
动态测量法
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差∆T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
四探针法
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
