AP-PCT 芯片PCT高压加速老化试验箱

芯片PCT高压加速老化试验箱主要由箱体、加热系统、空气循环系统以及控制系统组成。箱体的外壳为采用冷轧钢板静电喷塑或雾面不锈钢，内胆采用镜面不锈钢板。外型整体美观大方。保温层为硬质聚氨脂发泡，具有强度高，保温性有好等特点。该设备主要温度控制仪采用智能数显温度控制仪，人性化设计的操作方法，易学易用，并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。输入采用数字校正系统，内置常用热电偶和热电阻非线性校正表格，测量精确稳定。具备位式调节和AI 人工智能调节功能，0.2 级精度，多种报警模式。支持历史数据记录查询，U盘导出备份功能，压力表采用耐高温蒸汽指针式压力表，测压精准.

技术参数：

工作室尺寸：PCT-40：400mm x L500 mm 圆型试验箱

温湿度范围：+100 ℃  ～ +135℃( 饱和蒸气温度 ),100 % 蒸气湿度

温度波动度：±0.5℃

湿度分布均度：3%

加压时间：0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

温度显示精度：0.1℃

压力波动度：±0.02Kg

控制器：LCD数显P、I、D +S、S、R.微PLC+彩色触摸屏

精度范围：设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，分辨率：±0.1℃

温度传感器：铂金电阻 PT100Ω

加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器

循环系统：蒸汽对流热排式

外箱材质：碳素钢板.磷化静电喷塑处理/SUS304不锈钢雾面线条发纹处理

内箱材质：SUS316L优质不锈钢

保温材质：聚胺脂硬质发泡、超细玻璃纤维绵

标准配置：试品架1个、隔板二层

安全保护：超压、短路、超温、过电流保护

使用芯片PCT高压加速老化试验箱时需注意以下事项：

安全操作规范

‌禁止在试验过程中将手伸入箱内‌，避免触碰高温蒸汽或设备部件导致烫伤或触电。 ‌

必须佩戴防护设备‌（如手套、防护眼镜），防止蒸汽或高温造成皮肤或眼睛损伤。 ‌

操作前需确认设备压力和温度已降至安全范围‌，特别是开启箱门前需等待压力表归零且箱内温度低于80℃。 ‌

设备维护与使用

‌加水时需使用纯水或蒸馏水‌，并确保水位达到水箱容量的80%，连续使用时需在试验后或过程中及时补水。 ‌

放置样品时需保持间距‌，确保蒸汽穿透效果并避免堆叠过密引发受热不均。 ‌

密封时需确保密封圈嵌入槽内‌，旋紧手轮至门与箱体密合。 ‌

特殊注意事项

‌设定温度需低于安全排压阀整定值‌（通常为0.26MPa），否则可能触发安全阀自动降压。 ‌

‌试验结束后需缓慢旋转手轮开门‌，避免蒸汽冲击导致烫伤或设备损坏。 ‌

若涉及半导体或精密元件测试，需特别注意湿气对封装材料的腐蚀风险。