AP-HAST 高压加速老化试验箱

550高压加速老化试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

样品要求:

为使您的试验数据更真实、有效，须同时满足下述原则合理使用该试验箱：

负载的总质量在每立方米工作室容积内放置不超过80Kg

负载的总体积不大于工作室容积的1/5

在垂直于主导风向的任意截面上，负载面积之和应不大于该处工作室截面积的1/3。负置放时不可阻塞气流的流动

技术参数：

有效容积：约84.4升

内箱尺寸：Ø(直径)426 mm*D(深)657mm（圆桶型压力内箱）

有效内箱尺寸：Ø(直径)400 mm*D(深)500mm（圆桶型压力内箱，含传递导热板）

外箱尺寸：W(宽)710mm*H(高)1730mm*D(深)980mm(不含机台突出部分！)

温度范围:

+105℃～+133℃（at 100％RH）

+110℃～+140℃（at 85％RH）

+118℃～+150℃（at 65％RH）

到达额定温度时间：约60分钟 （120℃ 85％RH） (空载，不发热)

负载情况：空载（注：在室温+25℃空载时测量，温湿度性能测试根据GB/T 2424.5或 IEC60068 -3-5标准的有关规定测量； 传感器放置在空气处理单元出风口处）

压力偏差：≤±2 kPa

升压时间：常压 到 200Kpa  60min

保温围护结构：外层冷轧钢板—内箱SUS316不锈钢

外箱材料：冷轧钢板，表面静电粉体烤漆，颜色平光闪银

内箱材料：SUS316不锈钢板；内胆整体全满焊焊接而成

550高压加速老化试验箱控制系统：

安全保护系统：

超温保护：试验箱独立可调电子式超温保护装置。

加热器：空气调节通道极限超温保护：机械式双金属片原理的超温保护器

加湿系统：加湿发热管超温保护(干烧)、供水异常、排水异常保护。

箱内压力保护：箱内压力超过工作值自动排气泄压

1）独立机械压力表和控制器内上限压力设定双重保护

2）安全泄压阀（全启式自动排压阀，可手动控制）

箱门锁紧保护：位置传感器判断箱门是否关到位锁紧，不然设备无法运行

总电源：设备漏电保护，过载及短路保护

控制电路：过载及短路保护

报警动作：当出现上述保护时,设备停止运行,并发出声光报警,同时在仪表上显示故障位置及其原因和解决办法。