AP-PCT PCT加速老化试验箱

PCT加速老化试验箱是将待测品置于严苛之温度、湿度[ 饱和水蒸气 ] 及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板&FPC)，用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验 .. 等试验目的，如果待测品是半导体的话，来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之界面渗入封装体之中，常见的故装原因 ： 爆效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路 .. 等相关问题。

技术参数：

工作室尺寸：PCT-40：400mm x L500 mm 圆型试验箱

温湿度范围：+100 ℃  ～ +135℃( 饱和蒸气温度 ),100 % 蒸气湿度

温度波动度：±0.5℃

湿度分布均度：3%

加压时间：0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

温度显示精度：0.1℃

压力波动度：±0.02Kg

控制器：LCD数显P、I、D +S、S、R.微PLC+彩色触摸屏

精度范围：设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，分辨率：±0.1℃

温度传感器：铂金电阻 PT100Ω

加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器

循环系统：蒸汽对流热排式

外箱材质：碳素钢板.磷化静电喷塑处理/SUS304不锈钢雾面线条发纹处理

内箱材质：SUS316L不锈钢

保温材质：聚胺脂硬质发泡、超细玻璃纤维绵

标准配置：试品架1个、隔板二层

安全保护：超压、短路、超温、过电流保护

电源电压：AC220V/ 50±0.5Hz 单相

PCT加速老化试验箱主要特点：

1.采用耐高温电磁阀双路结构，在大程度上降低了使用故障率。

2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3.门锁省力结构，解决产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时.

6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7.tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮

10.支持USB导出数据，历史记录记录三个月时长的试验数据 .