- 面议
参考价：
起订量：
X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160
- 型号
经营范围:色谱仪器，质谱仪器， 光谱仪;专注服务于各企业的化学实验室。服务优势:价格合理，路低于多数同行。产品优势:货源稳定。苏州邦盘电子技术有限公司位于苏州*开发区，比邻新区CBD区域，苏州邦鑫电子技术有限公司愿真诚携手各位合作伙伴、新老用户，共创事业的辉煌。
详细信息
- FT160为微型电子器件的微焦斑分析，这款不会过时的仪器，专为微焦斑和薄镀层分析而设计，可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。
■ FT160可提供：
1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。
2. 小于50μm的样品测量
3. **的性能，以满足半导体芯片技术的挑战。
4. 快速得到结果，使用简单，以提高生产力。
5. 加快样品呈现速度的宽大样品舱门和样品台。
6. 进行测试监控的宽大样品观察窗。
-
项目 描述 X射线照射方向 上方照射式 测量元素 Al (13) ~ U(92) 靶材 钨(W) target、钼(Mo) target 测定环境 大气 Ｘ射线发生部 45kV, 钼Mo 靶材 设计 毛细管聚焦Poly-capillary 管电流 *大1000μA 可变 X射线检测部 Silicon Drift Detector (SDD) 测定面积 φ0.030mm(FWHM 0.017mm) *大样品面积 FT160长400mm×宽300mm×高100mm
FT160L 600mm x 600mm专用款电动XY样品台驱动移动范围 400×300mm CCD Camera 高质量相机可变焦16倍 对焦模式 雷射自动对焦 测量模式 Thin Film FP (5层, 10元素)/检量线法
