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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230
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经营范围:色谱仪器，质谱仪器， 光谱仪;专注服务于各企业的化学实验室。服务优势:价格合理，路低于多数同行。产品优势:货源稳定。苏州邦盘电子技术有限公司位于苏州*开发区，比邻新区CBD区域，苏州邦鑫电子技术有限公司愿真诚携手各位合作伙伴、新老用户，共创事业的辉煌。
详细信息
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FT230的每一个部分都是为了准确测试，并大幅减少分析时间而设计的。
- 自动聚焦减少样品装载时间
- Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
- 屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了**的可视度
- 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
- 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
- 采用了新的使用者界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
- 功能*，可同时测量四层镀层
- 经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
- 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
- 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求
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分析 详细内容 X射线管 钨(W)靶微焦点X射线管，自上向下照射式， *大50 kV，1000μA，50 W 检测器 高分辨率大面积50 mm2 SDD 初级滤波器 5个初级滤波器(2种铝膜、钛膜、钼膜、镍膜)+ 1个无滤波器 准直器 4个准直器，有长圆形和圆形两种可供选择，尺寸范围为从0.01 x 0.25 mm到1 mm(0.5 x 10 mil到40 mil) 元素范围 铝(13)-铀(92) 层数 *多5层 (4层加基底) 可选元素 自由选择 大气补偿 自动温度和压力补偿 环境 空气 规范 能量色散X射线荧光测量镀层 符合ASTM B568、DIN ISO 3497 样品定位 详细内容 *大样品尺寸 500 x 400 x 150 mm 样品台行程 250 x 200 mm 样品台尺寸 900 x 600 mm-电动样品台，开槽样品室
270 x 210 mm-电动样品台，密闭样品室
540 x 540 mm- 固定样品台样品台速度(电动配置) 80mm/s 样品台精度(电动配置) ≤ 5 μm *大样品重量 10 kg - 固定样品台
5 kg - 电动样品台z轴行程 205 mm 工作距离 5 mm- 标称，聚焦激光器
5至67 mm-自动对焦/自动接近(可选)样品台-Z轴控制 软件控制和带启动按钮的三向操纵杆(可选) 聚焦 7.1 x 5.3 mm 视野(广角摄像机，可选) 250 x 200mm 定位辅助 雷射定位、预定位激光(电动样品台配置) 软件 详细内容 用户接口 FT Connect 标准功能 镀层分析(FP和经验分析)、体相材料成分分析(FP和经验分析)、多点程序设计、定性模式、数据历史、诊断、ExTOPE云链接密码保护、多级访问控制软件 智能识别功能 “查找我的零件”(机器视觉、二维码/条形码扫描、文本查找)、“查找我的模式”(机器视觉) 语言 简体中文、繁体中文、捷克语、英语、法语、德语、意大利语、日语、韩语、葡萄牙语、俄语、西班牙语 PC规格 Windows 10 64位 PC 尺寸和工作环境 详细内容 尺寸 600 x 815 x 745 mm- 密闭样品室
900 x 931 x 745 mm- 开槽样品室，电动样品台重量(不含PC) 140kg 温度范围 10 - 40 °C 湿度范围 *大相对湿度:90%(无冷凝) 供电要求 100-240 V±10% ; 47-63 Hz ; 1.5 A 信号塔(可选) 三层红色/黄色/绿色指示灯(X射线打开/快门打开/仪器通电) Au/NiP/Cu的典型性能 Au NiP 测试范围 0.051 - 0.09 μm
(2.00 - 3.55 μin)2.7 - 5.7 μm
(106 - 225 μin)标准误差 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 30 s时的精度(2σ)，0.3 mm准直器 0.0025 μm @ 0.09 μm
(0.099 μin @ 3.55 μin)0.026 μm @ 5.7 μm，8 %P
(1.02 μin @ 225 μin，8 %P)Sn/Ni/Cu的典型性能 Sn Ni 测试范围 2.16 - 9.2 μm
(85 - 362 μin)0.97 - 15.1 μm
(38 - 595 μin)标准误差 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 30 s时的精度(2σ)，0.3 mm准直器 0.014 μm @ 4.9 μm
(0.55 μin @ 193 μin)0.036 μm @ 4.7 μm
(1.42 μin @ 185 μin)
