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高频介电常数测试仪(介质损耗)

型号

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详细信息

高频介电常数测试仪(介质损耗)

项目/型号

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信号源

DDS数字合成信号

频率范围

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

16000:1

采样精度

11BIT

12BIT

信号源频率精度

3×10-5 ±1个字,6位有效数

Q值测量范围

11000自动/手动量程

Q值量程分档

301003001000、自动换档或手动换档

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

5%

电感测量范围

1nH8.4H,;分辨率0.1

1nH140mH;分辨率0.1

电感测量误差

3%

电容直接测量范围

1pF2.5uF

1pF25uF

调谐电容误差分辨率

±1pF或<1%

主电容调节范围

30540pF

17240pF

谐振点搜索

自动扫描

自身残余电感扣除功能

大电容值直接显示功能

介质损耗直读功能

介质损耗系数精度

万分之一

介质损耗测试范围

0.0001-1

介电常数直读功能

介电常数精度

千分之一

介电常数测试范围

0-1000

LCD显示参数

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

准确度

150pF以下±1pF150pF以上±1%

Q合格预置范围

51000声光提示

环境温度

0℃~+40

消耗功率

25W

电源

220V±22V50Hz±2.5Hz

极片尺寸

38mm/50mm(二选一)

极片间距可调范围

15mm

材料测试厚度

0.1-10mm

夹具插头间距

25mm±0.01mm

夹具损耗正切值

4×104   1MHz

测微杆分辨率

0.001mm

测试极片

材料测量直径Φ38mm/50mm,厚度可调 ≥ 15mm

品质因数(Q值)的测试
利用谐振法测回路的品质因数(Q值),可采用电容变化法或频率变化法,两种测试方法均采用图的电路。
电容变化法是变化调谐回路中的电容量,使回路发生一定程度的失谐,从而求得回路的品质因数。根据回路谐振时可变电容器Cs的读数Cso和回路两次失谐(谐振指示器指示下降到70.7%)时可变电容器Cs的读数ClC2,即可按下式计算品质因数
Q=2Cso / (C2-C1)
频率变化法是变化高频振荡电路的振荡频率,使回路发生一定程度的失谐,从而求得回路的品质因素。根据回路谐振时振荡电路的频率数fo和回路两次失谐(谐振指示的指示下降到70.7%)时振荡电路的频率读数f1f2,可计算品质因数Q=fo / (f2-f1)
用电容变化法和频率变化法测回路的品质因数Q值,须经过几步操作和计算。
根据谐振原理制成的一种能直接读出线圈Q值的测试仪器,称之为Q表。它是测高频电路元件参数的重要仪器。Q表除测线圈Q值的基本用途以外,因为其中包含有谐振测试法所需用的各项设备,所以还可以用它进行其他项目的谐振法测试。
Q
表的基本原理图如图。由图可见,被测线圈(视在参量为LxRx)与Q表内部的一只标准可变电容器Cs组成一个串联谐振回路;并在标准可变电容器的两端跨接一只标准可变电容器Cs组成一个串联谐振回路;并在标准可变电容器的两端跨接一只输入阻抗很高的电子电压表,作为谐振指示器;加在标准电阻R1R2上的高频电压,由一个作监视器的电子电压表测试,用以监视引入串联谐振回路的高频电压U1的大小。
调节可变高频振荡电路的频率或标准可变电容器的电容,使串联谐振回路谐振,此时并联在标准可变电容器上的电子电压表的指示最大。按照谐振回路的原理,最大电压
U2
和输入回路的电压U1之间关系U2=QU1,可得:
Q=U2/U1
由此测得的Q值是串联谐振回路总的品质因数。但由于在一般情况下标准可变电容器Cs的损耗与线圈的损耗相比可以忽略,电子电压表的输入电阻极大,由其所引入回路中的损耗可以忽略,输入电压U1的内部电阻与线圈的有效串联电阻Rx相比也可以忽略,所以串联谐振回路的品质因数Q可以认为是被测线圈的品质因数Qx
若将U1的大小保持一定,则U2即比例于被测线圈的Q值,因此如将电子电压表的度盘直接按Q值刻度,在测试时便可以直接读出Q值。
U2=QU1这一基本关系式可见,因为U2Q之间的比例常数为U1,改变U1的大小可以改变Q表量程。U1愈小,则同一U2值所代表的Q值愈大。所以Q表的量程能借助Ul的减小而扩大。某些产品Q表就是通过减小Ul值来扩展Q值读数倍率的。
为了使Q表除测试线圈Q值之外能进行其他谐振法测试,通常将其内部的高频振荡电路和可变标准电容均加以正确的定度。这样便可由振荡电路的频率度盘和频段开关所示出的读数,知道测试所用振荡频率的准确数值;由可变标准电容器度盘所示出的读数,知道测试时标准电容器的准确数值。为了微调和读出微小电容变化值的变化值的需要,一般Q表内部的标准电容器除一只容量较大(如500pF)的可调电容器外,还包括一个与之并联的、度盘直接按微小电容量(如±3pF)刻度的较小的电容器。
Q
表按其应用的频率范围不同,有低频Q表、高频Q表和超高频Q表等不同类型。不同频率的Q表的基本原理都同上所述。

高频Q表的组成
Q
表可以用来测量高频电感或谐振回路的Q值、电感器的电感量及其分布电容量、电容器的电容量及其损耗角、电工材料的高频介质损耗、高频回路的有效并联电阻及串联电阻、传输线特性阻抗等。
产品Q表的原理功能方框图如图。由图可见,Q表包括高频振荡电路、定位指示电路、谐振指示电路、测试回路和电源供给电路5个部分。现分别介绍如下。
1
. 高频振荡电路
通常是一个电感3点式振荡电路。一般产生频率为50KHz50MHz的高频振荡信号。分若干个频段,由筒形波段开关(仪器面板的频段开关)控制变换,每个频段的频率由双联可变电容器(仪器面板的频率度盘)连续调节。高频振荡电路的输出信号通过电感耦合线圈馈送到宽带低阻分压器(由1.96Ω、0.04Ω组成)。借助调节电位器(仪器面板上的定位粗调和定位细调旋钮)改变高频振荡管的相关直流电压,可以控制一定大小的高频信号电压,加到宽频带低阻分压器上,此高频信号通过电阻分压后加入串联谐振回路。
2
.定位指示电路
加在宽频带低阻分压器上的高频信号电压由作定位指示用的电子电压表测量,用以监视引入串联谐振回路的高频电压的大小。当调节高频振荡电路的输出信号电压,使定位指示器的指示在定位线“Q×1”上时,宽带低阻分压器的输入电压为500mV,通过分压,从0.04Ω电阻上取出的10mV的高频信号电压,加到测试回路(串联谐振回路)上。分压电阻是一个0.04Ω的小电阻,以实现低阻抗的高频信号源,减小电源内阻对测量电路的影响。作为定位指示用的电子电压表的零点调节(即起始电流补偿)由一只电位器(仪器面板上的定位校正旋钮)担当。 
3
.测试回路
测试回路中有两个标准可变电容器,一个是主调电容器(2×250pF),另一个是微调电容器(513pF);有两对接线柱:“Lx”和“Cx”,“Lx”接被测线圈或辅助线圈(测量电容时);“Cx”接被测电容等。由被测线圈(或辅助线圈)与标准电容器(或包括被测电容器)组成一个串联谐振回路。当调节标准可变电容器的电容量或振荡电路的频率,使串联谐振回路谐振时,作谐振指示器的电子电压表指示最大。
4
.谐振指示电路
谐振指示电路是一个作谐振指示和Q值读数的电子电压表,它并接在串联谐振回路中的可变电容器的两端。当串联谐振回路达到谐振状态时,电容器两端的电压达最大值,电子电压表指示达最大。由于回路谐振时标准可变电容器两端的电压的是测试电路的输入电压值UlQ倍,即U2=QUlQ=U2/U1,这里的Q值是串联谐振回路的品质因数,但可以认为是串联谐振回路线圈的品质因数。在U1为定值时(当定位指示器指示在“Q×1”位置时),测试电路输入电压Ul等于10mV,所以Q值正比于U2值(假使U20.lV,则Q10;假使U20.5V,则Q50;假使U2lV,则Q100……),因此可将作为谐振指示器用的电子电压表的表度盘直接按Q值刻度。这样刻度以后,在测量时便可以直接读出Q值。一般测量Q值的量程分三档:101002030050600,由电子电压表的灵敏度转换开关(仪器面板上的Q值范围开关)选择。作为谐振指示器的电子电压表的零点调节(即起始零点补偿),由一只电位器(仪器面板上的Q值零位校正旋钮)担当。
5
.电源供给电路
通常采用磁饱和稳压器和稳压管双重稳压,保证仪器在电源电压变化较大的情况下正常工作。

使用方法
Q
表虽然型号不少。但是它们除频率范围、测量范围、测量精度等不wan全一样外,基本使用方法是相同的。现以ZJD-C型高频Q表为例加以介绍。
ZJD-C
型高频Q表面板上所具有的控制装置有频段选择开关、振荡频率度盘、定位指示表头、定位零点校正旋钮、定位粗调和定位细调旋钮、Q表指示表头、Q值零位校正旋钮、Q值范围开关、主调电容度盘、微调电容度盘、测量接线柱、电源开关和指示灯。如图的Q表面板图,现分别介绍如下。
1
.频段选择开关 是高频振荡电路中的波段开关,分成七个频段。
2
.振荡频率度盘 作每个指示频段内的频率连续调节用。刻度盘上有与频段选择开关配合使用的若干条频率刻度,以选择所需频率。
3
.定位指示表头 是定位指示电路中的直流微安计CB1,用作监视引入测试电路的高频电压的大小。一般使用时调节定位粗调和定位细调旋钮,使表头指针指示在定位刻度的Q×1上,才能从Q值指示表上直读Q值。
4
.当定位粗调旋钮置于起始位置(逆时针旋到底)时,调节定位零位校正旋钮,使定位指示表的指针在零位。
5
.定位粗调和定位细调旋钮 是高频振荡电路中的两个电位器。调节定位粗调和定位细调旋钮,可改变高频振荡电路输出电压大小,使定位指示表指在刻度“Q×1”上。当定位粗调旋钮置于起始位置时,高频振荡电路输出为零(此时与定位细调旋钮所在位置无关)。
6
Q值指示表头 是谐振指示电路中的直流微安计CB2,作谐振指示和Q值读数用。表头上有三条刻度:010003000600。根据Q值范围开关所在位置,读表头上相应的刻度。
7
Q值零位校正旋钮 是谐振指示电路中的电位器。在测试回路远离谐振点的情况下,调节Q值零位校正旋钮,使Q值指示表的指针在零位。
8
Q值范围开关 是谐振指示电路中的波段开关,作谐振指示时的灵敏度变换和Q值指示的量程变换用,有三档位置:101002030050600,进行测量时,应根据被测元件Q值的大小选择适宜档级。
9
.主调电容度盘 是测试回路中标准可变电容器。度盘上有CL两种刻度。C刻度线在度盘的上方(以对准上方的读数指示红线为读数值),测量电容量时用。L刻度在度盘的下方(以对准下方的读数指示红线为读数值),测量电感量时用。
10
.微调电容度盘 是测试回路中的标准可变电容器,有-3pF0+3pF刻度,作微调之用,通常该度盘置于零位,否则测试时须将微调电容器度盘的读数加到主调电容度盘的读数上去。
11
.测量接线柱 是测试回路中的接线柱,有两对,位于仪器的顶部。“Lx”接线柱是接被测线圈的,若测量电容时,此接线柱须接辅助线圈。“Cx”接线柱是测量电容等时接被测电容等的。
12
.电源开关和指示灯

测试步骤与技巧
1
.测试准备
进行各项测试时均应做好本项使用工作。
1)将仪器安装在水平的工作台上,校正定位指示电表的机械零点。
2)将定位粗调旋钮向逆时针方向旋到底,定位零位校正和Q值零位校正旋钮置于中间附近位置,微调电容度盘调到零。
3)接通电源(指示灯亮),预热30分钟以上,待仪器稳定后进行测试。
2
.高频线圈Q值测量(基本测量法)
将被测线圈接在仪器顶部的“Lx”接线柱上(接触必须良好);调节频段选择和频率度盘,使之到规定的测量频率点上;估计被测件的Q值,将Q值范围开关置于适当的档级上;将定位粗调旋钮向逆时针方向旋到底(定位微调旋钮位置任意)。调节定位零位校正旋钮,使定位表指示为零;调节定位粗调、定位细调旋钮,使定位表指示在“Q×1”上(在回路调谐后,若定位表指示偏离定位点,则应重新调节定位粗调和定位细调旋钮,使指针仍在定位点上);调节主调电容度盘,使之远离谐振点(使Q值表指示最小);调节Q值零位校正旋钮,使Q表指示为零(100300600 三档零位在同一点上);再调节主调电容和微调电容度盘,使测试回路谐振,即Q值表指示最大,此时Q值表头指示值便为测量回路的Q值。因为测量回路中标准电容器的损耗极小,所以测量回路的Q值就近似等于被测电感的Q值。
注意:当工作频率高于10MHz时,若回路谐振,定位表可能有微小偏转,此时应调节定位细调旋钮定位表仍指示“Q×1”上,并以调节后的Q值表的读数为准。
由于被测线圈本身分布电容的影响,以上所测得的Q值和实际值略有相差,如果所进行的测量作为Q值的大概比较,那就不需加以修正。当需获得较精确的Q值时,则应按后面所述的方法测出线圈的分布电容量Co,然后按照下式修正:
Q=Qm
C1+Co/C1
式中Qm为测量值,C1为回路谐振时主调电容度盘与微调电容的读数之和。如回路谐振时C1读数很大,Co只占很小比数,则测得值和修正后的实际值相差很小。
3
.高频线圈电感量的测量
Q
表在测量高频线圈的Q值时,能够知道与被测高频线圈相谐振时的电容量C值和频率fo值。按照公式 可计算出被测高频线圈的电感量。实际上测量高频线圈电感值时,为了能够直读,通常是在某些zhi定频率上进行电感测量的。在频率已经zhi定的情况下,LxC成反比例的关系,所以在标准可变电容器的度盘上可附加直读电感的刻度,以免除计算的麻烦。
1)将被测线圈接在仪器顶部“Lx”接线柱上(接触必须良好)。
2)根据被测线圈的大约电感值,在面板上的“电感、倍率、频率”对照表中选择一标准频率。然后通过频段选择开关和频率度盘,将高频信号调到这一标准频率上。
3)使被测电感在此标准频率上谐振。
4)微调电容度盘置于“0”上,调节主调电容度盘,使测试回路谐振。则主调电容度盘对应的电感数乘以对照表上所指示的倍率就是被测线圈的近似电感值。
“电感、倍率、频率”对照表见表8-1所示。对照表的使用方法举例如下:如被测的高频线圈的大约电感值为50μH,根据表查得被测电感量在10μH100μH范围内,测试频率为2.52MHz,电感量按主调电容度盘上的L读数乘以倍率10
5)要测得准确的电感数,必须先测得电感的分布电容量Co(分布电容的具体测法见后面所述)。然后照上述步骤读得约略电感值后,再将主调电容度盘的刻度调在“C1+Co”的位置上,这时度盘的电感读数乘以对照表上所指示的倍率即为线圈的较精确的电感量。
6)在被测电感小于10μH时,按上述方法测得的电感值,还应减去仪器中测试回路本身的剩余电感LoLo近似等于0.07μH)。

电 感

倍 率

频 率

011.0uH

×0.1

25.2 MHz

1.010uH

×1

7.95 MHz

10100uH

×10

2.52 MHz

0.11.0mH

×0.1

795kHz

1.010mH

×1

252kHz

10100mH

×10

79.5kHz

实例:已知被测线圈的分布电容值Co=4pF,仪器剩余电感值Lo=0.07μH,按“电感、倍率、频率”对照表选择的标准频率f=7.95MHz。微调电容度盘置于“0”上,调节主调电容度盘,使测试回路谐振,测得Cl=196pF。随后再调整主调电容度盘到C1+Co=196+4=200pF)处。从对边L刻度线上读得L值为4μH。被测线圈的实际电感值为L-Lo=4-0.07=3.39uH)。
4
.高频线圈分布电容Co的测量
两倍频率法
将被测线圈接在仪器顶部的“Lx”接线柱上,将主调电容度盘调到C1上,通常C1200pF较为适宜。调节频段选择开关和频率度盘,找出谐振频率f1。然后将频率调至f2f2=<:chmetcnv UnitName="F" SourceValue="2" HasSpace="False" Negative="False" NumberType="1" TCSC="0" w:st="on">2f1),再调节主调电容度盘至谐振点C2。根据下式可求得分布电容Co的值
Co=
C1<:chmetcnv UnitName="C" SourceValue="4" HasSpace="False" Negative="True" NumberType="1" TCSC="0" w:st="on">-4C2/3
自然频率法
此法可获得较准确结果。
1)将被测高频线圈接在“Lx”接线柱上。
2)将微调电容度盘置于“0”位置上,主调电容度盘调C1C1400pF
3)调节高频振荡器的频率,使测试回路谐振,谐振频率为f1
4)取下被测线圈,换上一个能在主调电容度盘调节范围内和<:chmetcnv UnitName="F" SourceValue="10" HasSpace="False" Negative="False" NumberType="1" TCSC="0" w:st="on">10f1频率谐振的标准电感。
5)将高频振荡器调到约<:chmetcnv UnitName="F" SourceValue="10" HasSpace="False" Negative="False" NumberType="1" TCSC="0" w:st="on">10f1的频率上,调节主调电容度盘,使测试回路谐振。
6)将被测线圈接在“Cx”接线柱上,调节主调电容度盘,使测试回路谐振,此时看电容度盘读数是增加还是减小,如果增加则应将信号频率调高些,如是减小则将信号频率调低些。
7)再取下被测线圈,调节主调电容度盘,使测试回路谐振。
8)重复(6)、(7)直到某一频率,被测线圈接上或不接上“Cx”柱均不改变谐振点,这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2,线圈的分布电容:Co=C1(f1 /f2)2。式中电容量单位用pF;频率单位用MHz
5
.电容器容量的测量
1) 小于460pF电容器的测量
通常采用并联替代法测量电容量小于460pF电容量,具体测量步骤如下。
取一个电感量大于lmH的辅助线圈,接在“Lx”接线柱上,与标准可变电容器组成串联谐振回路。
将微调电容度盘调到“0”位,主调电容度盘调到较大电容量C1上。
定位粗调旋钮置于起始零位时,调节定位零位校正旋钮,使定位表示于零。调节定位粗调和定位细调旋钮,使定位表指示在“Q×1”位置附近。
调节高频振荡频率,使远离谐振点(即Q值表头指示最小),调节Q值零位校正旋钮,使Q值表指示于零。
调节频段选择开关和频率度盘,使测试回路谐振。
将被测电容器接在“Cx”接线柱上,与标准可变电容器并联,保持高频振荡频率不变,调节(减小)主调电容度盘。使测试回路恢复谐振,若此时主调电容器度盘的读数为C2,则C1=C2+Cx。所以被测电容器的电容量为Cx=C1-C2
2)大于460pF电容量的测量
通常标准可变电容器的电容变化范围有限,一般Q表的主调电容度盘的电容变化范围为460pF(从500pF变化到40pF)。故按上述的并联替代法只能测量电容量小于460pF的电容,若要测量大于460pF的电容时,可借助一只已知电容量的电容器作辅助元件,再用并联替代法进行测量或采用串联替代法进行测量。具体测量在测试原理中已介绍。
6
.电容器损耗因数的测量
下面介绍电容量不超过460pF的电容器损耗因数的方法。
1)调节频段选择开关和频率度盘到规定的测量频率点。
2)选择本身Q值较高、电感量适当的辅助电感,接在“Lx“接线柱上,与标准可变电容器组成串联谐振回路。
3)定位粗调旋钮置于起始零位时,调节定位零位校正旋钮,使定位表指示于零位,调节定位粗调和定位细调旋钮,使定位表指在“Q×1”上。
4)调节主调电容度盘到远离谐振点处(使Q值表指示最小),再调节Q值零位校正旋钮使Q表示于零位。
5)调节主调电容度盘,使测试回路谐振。读得Q值为Q1,电容读数为C1
6)将被测电容器接在“Cx”接线柱上,与标准可变电容器并联。调节电容度盘使测试回路恢复谐振。读得Q值为Q2,电容读数为C2。根据下式便可算得电容器损耗正切角δ,
tg
δ=1/Q=[(Q1-Q2) / (Q1·Q2)][(C1+Co) / (C1-Co)]
式中Co为辅助电感的分布电容量。
电容器的有效并联电阻为Rp
Rp=[(Q1
·Q2) / (Q1-Q2)]·{1/[2πf / (C1+Co)]}
式中Rp是有效并联电阻,单位为Ω;f是谐振频率,单位HzC1Co单位pF。如果fkHz作单位,C1CopF为单位,则上式写成
Rp=[(Q1
·Q2) / (Q1-Q2)]·[159·106f (C1+Co)]
7
.大电阻的测量(在规定频率下的有效电阻)
1)按第6项(1)~(5)操作,其中C1值要尽量小些(即选用适当的电感器),以提高测量灵敏度。
2)将被测件接在“Cx”接线柱,再调节电容度盘,使测试回路恢复谐振,此时Q值读数为Q2,电容读数为C2,有效电阻值即为
Rp=[(Q1
·Q2) / (Q1-Q2)]·[1/2πf (C1+Co)]
此电的分布电容Cp=C1-C2。如C1小于Co,则此电阻在这个测试频率上具有电感性,它的电感量为Lp=1/[(2πf)2 (C2-C1)],此处Lp单位uHC1C2单位pFf单位kHz
8
.低阻抗的测量
低阻值电阻、大容量的电容和小电感等低阻抗都可以且串联法来进行测量。
1)按第6项(1)~(5)操作进行。
2)将被测件和标准电感串联后再接入“Lx”接线柱,保持高频振荡频率不变。并重调电容度盘,使测试回路恢复谐振。读出C2Q2值,就可以按下式算得有效电阻值
Rs={(1/2
πf)[1 / (C2Q2)-1 / (C1Q1)]}×106
此处Rs单位Ω;C1C2单位为pFf单位kHz

使用注意事项
1
.被测件和测量回路的接线柱间的接线应尽量短和足够粗,并且要接触良好可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。
2
.被测件不要直接搁在仪器顶部,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯做成的衬垫物衬垫。
3
.不要把手靠近被测件,以免人体感应影响而造成测量误差。有屏蔽的被测件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱上。
4
.估计被测件的Q值,并将Q值范围开关置于适当的档级上。在不了解被测件的Q值时,Q值范围开关应置于高档。定位粗调旋钮应保持适当位置,特别在变换高频振荡频率档级时,要避免定位表超过满度引起损坏。
5
.仪器应保持清洁干燥,特别是测试回路部分。

测试准备:
1)将仪器安装在水平的工作台上,校正定位指示电表的机械零点。
2)将定位粗调旋钮向逆时针方向旋到底,定位零位校正和Q值零位校正旋钮置于中间附近位置,微调电容度盘调到零。
3)接通电源(指示灯亮),预热30分钟以上,待仪器稳定后进行测试。

图片1.png

2 ZJD-C型高频Q表面板图

高频线圈电感量的测量。
Q
表在测量高频线圈的Q值时,能够知道与被测高频线圈相谐振时的电容量C值和频率fo值。按照公式 可计算出被测高频线圈的电感量。实际上测量高频线圈电感值时,为了能够直读,通常是在某些zhi定频率上进行电感测量的。在频率已经zhi定的情况下,LxC成反比例的关系,所以在标准可变电容器的度盘上可附加直读电感的刻度,以免除计算的麻烦。
1)将被测线圈接在仪器顶部“Lx”接线柱上(接触必须良好)。
2)根据被测线圈的大约电感值,在面板上的“电感、倍率、频率”对照表中选择一标准频率。然后通过频段选择开关和频率度盘,将高频信号调到这一标准频率上。
3)使被测电感在此标准频率上谐振。
4)微调电容度盘置于“0”上,调节主调电容度盘,使测试回路谐振。则主调电容度盘对应的电感数乘以对照表上所指示的倍率就是被测线圈的近似电感值。
“电感、倍率、频率”对照表见表1所示。对照表的使用方法举例如下:如被测的高频线圈的大约电感值为50μH,根据表1所示查得被测电感量在10μH100μH范围内,测试频率为2.52MHz,电感量按主调电容度盘上的L读数乘以倍率10
5)要测得准确的电感数,必须先测得电感的分布电容量Co(分布电容的具体测法见后面所述)。然后照上述步骤读得约略电感值后,再将主调电容度盘的刻度调在“C1+Co”的位置上,这时度盘的电感读数乘以对照表上所指示的倍率即为线圈的较精确的电感量。
6)在被测电感小于10μH时,按上述方法测得的电感值,还应减去仪器中测试回路本身的剩余电感LoLo近似等于0.07μH)。

电容器容量的测量
1)小于460pF电容器的测量
通常采用并联替代法测量电容量小于460pF电容量,具体测量步骤如下。
取一个电感量大于lmH的辅助线圈,接在“Lx”接线柱上,与标准可变电容器组成串联谐振回路。
将微调电容度盘调到“0”位,主调电容度盘调到较大电容量C1上。
定位粗调旋钮置于起始零位时,调节定位零位校正旋钮,使定位表示于零。调节定位粗调和定位细调旋钮,使定位表指示在“Q×1”位置附近。
调节高频振荡频率,使远离谐振点(即Q值表头指示最小),调节Q值零位校正旋钮,使Q值表指示于零。
调节频段选择开关和频率度盘,使测试回路谐振。
将被测电容器接在“Cx”接线柱上,与标准可变电容器并联,保持高频振荡频率不变,调节(减小)主调电容度盘。使测试回路恢复谐振,若此时主调电容器度盘的读数为C2,则C1=C2+Cx。所以被测电容器的电容量为Cx=C1-C2
2)大于460pF电容量的测量
通常标准可变电容器的电容变化范围有限,一般Q表的主调电容度盘的电容变化范围为460pF(从500pF变化到40pF)。故按上述的并联替代法只能测量电容量小于460pF的电容,若要测量大于460pF的电容时,可借助一只已知电容量的电容器作辅助元件,再用并联替代法进行测量或采用串联替代法进行测量。

高频介电常数测试仪(介质损耗)

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