FEI Quanta系列 扫描电子显微镜

FEI Quanta系列 扫描电子显微镜包括6个变量的压力和环境扫描电子显微镜（ESEM™）和两个DualBeam™系统，所有这些都可以容纳多个样品和工业过程控制实验室，材料科学实验室和生命科学实验室的成像要求。Quanta系列的扫描电子显微镜，是一款多功能，高性能仪器与任何SEM系统的样本，以适应范围的三种模式（高真空，低真空和ESEM）。如能谱仪，波长色散X射线光谱仪和电子背散射衍射分析系统，可配备所有的广泛电脑扫描电镜系统。
FEI Quanta系列 扫描电子显微镜可用于研究各种材料并表征材料的结构与成分，同时提供的灵活性，提高了性能与通用性，可应对当今广泛研究领域的各种挑战，满足多方需要。观察样品，获取所有相关数据：将显微镜附件与表面形貌和成分图像结合使用，确定材料特性及其化学元素组成。
导航功能包括自动 Montage 导航、样品台移动双击控制、拖放变焦和其他有用的标准结合功能。SmartSCAN™ 技术采用智能扫描策略，可减少噪声，提供zui优质的数据。其他新功能包括可提高低加速电压 (kV) 性能的射束减速功能、Nav-Cam™ 彩色图像导航和使 Quanta FEG 系列具备更大灵活性的新型伸缩式检测器等。
采用环境扫描显微 (ESEM) 技术，打造wei一的高分辨率 FEG-SEM 产品
可表征导电和非导电样品，且在各操作模式下均可能实现二次电子 (SE) 和背散射电子(BSE) 成像
限度减少样品制备量；低真空和环境扫描 (ESEM) 功能可实现无电荷成像，并能实现对绝缘样品和含水样品的分析
在 Quanta 的“经由透镜抽气”zhuan利技术产生的高真空和低真空环境中对导电和非导电样品进行能谱 (EDS) 和电子背散射 (EBSD) 分析，以提高分析能力。稳定的高射束电流（达到 200 nA）可实现快速、准确的分析
在原位样品台上可对各种保持自然状态的样品进行动态原位分析，分析温度高于或低于环境温度，变化区间从 165 °C 到1500 
使用可选的射束减速模式能进行表面成像，以从导电样品中获取表面和成分信息
易用，直观的软件让新手也能高效操作