硅材料测试仪

HD-1709硅材料测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-14 09:00:00
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北京杰瑞恒达科技有限公司

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产品简介

本产品是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。

详细介绍

硅材料测试仪产品概述详细

1.超级便携,使用两节1.5V7号电池供电

2.具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。

3.预设样片厚度,自动修正,直读电阻率

4.报警门限预设

5.尺寸:37×124×22mm

6.电阻率:0.001-50欧姆厘米

7.P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<50欧姆厘米

一、产品说明

本产品是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。

二、产品特点

采用两节7AAA电池供电。

同时检测硅半导体材料的电阻率和导电类型两项指标。

电阻率测试分辨率,zui小可到0.001欧姆.厘米。

P/N导电类型测定:能精确的分辨电阻率在0.005欧姆.厘米到50欧姆.厘米之间的硅半导体材料导电类型。

微小的体积带来*的便携性。

极低功耗带来超长使用时间。

简单的操作,快速的测试。

三、参数指标

供电电源:两节7AAA电池

使用时zui大功耗<0.3W

待机状态功耗约15mW

软关机状态功耗约0.1mW

整机尺寸37×124×22mm

测试范围0.001~50欧姆.厘米

测试精度±10%或±2LSB

 

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