一般要求：

  试验与标准中规定的HR30T或HR15T试验条件相似，但经协议允许在试样背面出现变形痕迹。

  试验可用于厚度小于0.6mm至产品标准中给出的zui小厚度的产品。可对硬度在80HR30T以下的薄件进行试验。产品标准规定的HR30Tm或HR15Tm硬度时，可按此方法试验。

试样支座：

  试样支座应使用直径为4.5mm的金刚石平板。支座面应与压头轴线垂直，支座轴线应与主轴同轴，并能稳固地安装于硬度计试台上。

试样制备：

  如有必要减薄试样，要对试样上下两面进行加工，加工中应避免如发热或冷变形等对金属基体性能的影响。基体金属不应薄于zui小允许厚度。

压痕距离：

  如无其他规定，两相邻压痕中心间距离或任一压痕中心距试样边缘距离不小于5mm。

文章来自：济南中创工业测试系统有限公司