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Huace-300表面、体积电阻率测试仪
表面、体积电阻率测试仪采用高精度、低温漂系数电阻，肖特基高压稳定二极管。既可测量高电阻，又可测微电流，采用了集成电路，数字液晶直接显示电阻值和电流。 参考价￥16000 -
HCDH-4耐电弧试验仪
HCDH-4耐电弧试验仪是专门为电气绝缘材料测试而开发的设备。适于用于电气绝缘材料、塑料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆、橡胶类材料电学检测、PCB、光伏膜材料、四氟、ABS、尼龙等材料、薄膜材料、油脂、硅脂、绝缘油检测等。 参考价￥63000 -
HCDJC- 100KV电压击穿试验仪
HCDJC系列电压击穿试验仪采用计算机控制，通过人机对话方式，完成对绝缘介质的工频电压击穿，可对试验过程中的各种数据进行快速准确的采集处理，支持数据存储、显示、打印一体化功能。 参考价￥80000 -
HCDJC- 50KV电压击穿试验仪
HCDJC系列电压击穿试验仪采用计算机控制，通过人机对话方式，完成对绝缘介质的工频电压击穿，可对试验过程中的各种数据进行快速准确的采集处理，支持数据存储、显示、打印一体化功能。 参考价￥70000 -
HCDJC- 20KV电压击穿试验仪
HCDJC系列电压击穿试验仪采用计算机控制，通过人机对话方式，完成对绝缘介质的工频电压击穿，可对试验过程中的各种数据进行快速准确的采集处理，支持数据存储、显示、打印一体化功能。 参考价￥90000 -
HCQ37a工频介电常数测试仪
HCDJ-37a工频介电常数测试仪是华测公司推出的新一代高压电桥,主要用于测量高压工业绝缘介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工绝缘油及各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（C）及介电常数(ε)。 参考价￥90000 -
HCLD-2低压漏电起痕试验仪
低压漏电起痕试验仪是根据 UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等标准规定的模拟仿真试验项目。 参考价￥80000 -
HC-TSDCTSDC热激励去极化电流系统
TSDC热激励去极化电流系统（Thermally stimulated depolarization currents,简写为TSDC或 TSC)是电介质资料在受热过程中建立极化态或清理极化态时所产生的短路电流。试样的去极化电流随温度的变化关系，即为 TSDC谱。经过研究TSDC谱可以认识电介质资料中偶极子和可动离子的性质、赋活能以及弛豫时间(寿命)等。 参考价￥130000 -
HC9023绝缘材料电阻评价平台
HC9023绝缘材料电阻评价平台运用平行板法设计原理测量。该仪器设计符合《GB/T 10518-2006绝缘材料在高温下电阻和电阻率试验方法》标准设计开发，并参考美国 ASTM 标准。利用特别的电阻测试系统，重复性与稳定性更加好，提升了夹具的抗干扰能力，同时大大提高准确度,可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 参考价￥170000 -
HCQD-4长期耐腐蚀老化试验平台
长期耐腐蚀老化试验平台面对材料越来越小型轻量及高密度封装，因结露、吸湿、电场环境等因素造成的绝缘不佳现象暨离子迁移现象日益突出，长期电化学腐蚀平台，可高精度连续试验，有效简便评估因老化腐蚀现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。 参考价￥30 -
FDS2000绝缘诊断测试系统
FDS 2000绝缘诊断测试系统是一台非常紧凑的设备，需另配电脑进行操作。FDS 2000绝缘诊断分析仪是基于电介质介电响应理论，集介电响应测试与绝缘状态评估及诊断一体的综合绝缘分析系统。该仪器的测试频率范围为mHz-1kHz，且在低频范围内可以选择快测试方式，在确保测试精度的前提下，大幅减少实验室测量时的等待时间及现场测量的停电时间。 参考价￥430000 -
Huace-300导电与防静电体积电阻率测试仪
导电与防静电体积电阻率测试仪新的HC浮动电路与三轴连接器组合使用可有效增强对电源干扰或外来干扰的稳定性(重复精度)。普通使用环境的偏差为0.007%(代表值)，与以往机型相比减少至1/60，更值得一提的是在掺杂50V突发干扰的条件下减少至1/300。电流输入端口新采用大口径三轴连接器，是将内部连接至GUARD(COM) 线，外部连接至GROUND的3 层同轴设计。 参考价￥13000