BET-2000纳米材料BET比表面测定仪
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪：真空静态法
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪测定范围：比表面积：下限优于0.1M2/g，无已知上限
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪压力测定：
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000范围：0-120KPa  精度：±0.1% FS
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000液氮容器：
          容积：1.5L
          数量：1
          保持时间：10小时
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000样品管：
          材料：玻璃
　　　    体积：2－10mL
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000真空泵：
          抽速：30L/min
　　　    真空度：7X10-2Pa （7X10-4torr）
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000计算机配置要求：
　　　    CPU：2G HZ
　　　    RAM：256M
　　　    硬盘：1GB以上自由空间
　　　    显示器：1024X768CRT
　　　    接口：RS232/USB
          操作系统：WIN98/Me/2K/XP
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000输出报告：BET比表面积
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000尺寸及重量：D450 x W610 x H680 mm，~70 kg（主机）
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000电源：
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000主机：AC220V  100W
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000真空泵：AC220V  500W
真空静态法纳米材料BET比表面测定仪BET-2000分析仪特点：
用于BET比表面积指标的精确分析；全过程的微机程控，无需人为操作；自动的吸附及解析；安全的防气路污染措施；使用单独氮气吸附，无需氦气，降低分析成本；高精度的传感器及24位的AD转换器件；并联式气路设计，实现样品的同时和单独分析；PO的自动测定功能；全不锈钢的真空内气路；的杜瓦瓶自动托盘；软件的升级服务。