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MFA-140多功能吸附仪是一款高品质高性能的比表面积孔径分析仪,测试精度及重复性与进口产品相当,可针对微孔材料进行准确分析;4站式设计,可进行异步分析,拥有意外停止存储功能,恢复后可继续进行测试,并可根据用户需要升级为MFA-170扩增至7个分析口;彼奥德研发和技术团队为其提供了足够的真空条件和精确的分压控制条件,配置了进口分子泵、多个进口压力传感器,以保证对0-10torr//0-100torr//0-1000torr压力范围为内梯度压力变化的准确探测;引入双向定位补偿技术,以解决传统液位升降技术定位不准确和样品管内气体所处环境区域温度变化引起的气体体积数据偏差,进而提高测试数据精度;20位一体气路控制系统,提高气路控制精度,减少复杂的气路管,规避局域温度变化引起的气体定量不准确,也降低了气路系统的漏气率,模块化的结构便于维护和解决气路污染问题;分体式全自动样品前处理器,工作效率高,便于维护,避免出现气路污染造成的交互影响;嵌入式10英寸触控系统,性能稳定,技术;全新镁铝合金骨架式结构,提高了领域内仪器的制造水准。
铝镁合金骨架及模块化展示
直线升降单元,定位精度为纳米级,仅有液位探测技术,没有完善的定位技术,液位的探测带来的是更大的误差,而非解决液位变化带来的误差,直线升降单元的解决了该问题,真正实现液位与样品管的相对位置保持不变。
技术参数
1. 分析方法:真空静态容量法
2. 吸附气体:氮气 、氢气、氪气、一氧化碳、二氧化碳、甲烷等
3. 分析口数量:4个(可扩展至7个)
4. 分析方式:分析口独立并行设计,互不影响分析状态
5. 仪器控制:嵌入式WINDOWS工控系统,10英寸高分辨率触摸屏控制,具备高达1200万次样品分析储存能力,无需外接分析电脑。
6. 测试范围:比表面积下限优于0.0005M2/g,无已知上限;微孔分析 0.35-2nm ;介孔分析0.35-50nm
大孔分析:50-500 nm
7. 分析精度:重复性误差小于±1%
8. 技术应用:吸附量动态调节、真空抽气动态PID调节、互联网远程控制、分析平衡时间动态调节及样品倒吸过滤器的外置设计。
9.气路控制系统:全新设计的20位一体集成气路与美原产高真空低功耗电磁阀的匹配,解决了多样品并行分析、反向漏气及气体升温等技术难题。
10.液位控制系统:自动用于不同温度的冷却剂,以保证整个分析过程冷却剂液面位置相对于被测样品始终不变,设计的冷却剂添加系统实现了无的超长样品分析。
11.冷却剂升降系统:四组高精度直线运动单元运行误差低至0.1毫米,实现了冷却剂液面高度实时显示及温差自动补偿程序的运行。
12.压力检测系统:德原产多压力传感器进行分段测量,以保证P/Po下限测试精度,为微孔的精确分析提供保障,压力测试范围为0-10Torr、0-100Torr 及0-1000Torr.
13.数据采集系统:高精度24位模数转换系统,拥有分析断点保存功能,大大降低实验事故的发生。
14.分析温度:-196摄氏度—100摄氏度
15.分压范围:P/Po 3x10-8-0.995,拥有独立的Po分析口和压力传感器,以保证饱和蒸气压的实时数据采集。
16.真空系统: 1x10-6Pa(德原产分子泵),美的世伟洛克不锈钢真空气路管及连接部件,保证了真空系统的极低泄漏率。
17.样品前处理:独立8口样品制备站
18.样品管:探针式气路设计,避免了处理后的样品二次污染。
19.安防系统:高灵敏可燃气体预警装置
20.输出报告:BET比表面积/吸附及脱附等温线/BJH孔体积分析/孔面积分析/总孔容积/总孔面积/;t-plot图法微孔分析/MP法微孔分析/HK微孔孔径分布/SF微孔孔径分布/Langmuir法比表面积分析。
功能特点:
★分析断点保存功能
仪器在分析样品过程断电,分析进度会自动存储,待电力恢复后可继续分析
★冷却液液面高度的实时显示功能
分析样品时,冷却液液面高度,全程显示在仪器的液晶面板上,当液面不足时,系统会提示用户添加,耗尽时仪器将自动转入安全处理程序
★分析平衡时间&吸附量的动态调节
仪器内置的控制软件,可根据当前分析样品的吸附或解吸状态,动态调整平衡时间,来加快分析进度
★真空抽气的动态PID调速
仪器的真空抽气速度采用智能的动态PID调节,即可保证快速的抽真空速度,又可避免易漂浮的样品污染气路