■产品简介

Kubo-X1000是款可应用于微孔领域的多分析站全自动物理吸附分析仪；拥有的技术、的品质、更全面的理论模型，对于微孔（0.7-2nm）、超微孔（0.35-0.7nm）及超小比表面（＜1m2/g）样品具有更加优良的测试精度，满足科研及学术探讨等多方面应用需求

■仪器性能优势 :

1. 超快的微孔分析效率 Kubo-X1000具有3个并行分析站
Kubo-X1000拥有三个独立并行的分析站，均可以实现超微孔、微孔、介孔、大孔、低比表面样品的测试。三个分析位可同时工作，每个分析位独立运行，具有独立的气路控制系统和压力探测系统，不需要等待其他分析位完成当前进程再开始下进程

2. 的微孔分析性能 相对压力P/P₀在10^-6-10^-8区间内可获得准确
对于微孔、超微孔样品的比表面和孔径测试要求，设备具有更高的真空度和压力探测能力。
Kubo-X1000在配置了领域内较好的硬件基础上融合了更多的核心技术: 的超高真空双稳态阀体，“0”发热；压力测试的B-ST技术，真实的反馈每次投气后的吸附状态；的死体积动态校准技术，实现测试时间与死体积定量的动态校准；PFC高精度压力电控系统大大缩短真空时间，测试速度多可提升50%

3. 的低比表面分析性能 多种AI智能判定模式及处理方案可选
市面上大部分仪器都是采用在主机上脱气的方式，并且设置固定脱气时间，不仅效率低，而且不能满足大多数样品的需求。Kubo-X1000配置独立的样品前处理器，独立的样品处理器，可以保障样品分析的的同时，进行下批次样品的前处理工作，进而提高仪器和人员的工作效率，仪器通过AI智能判定模式及多种样品处理方案，真空抽离及升温脱水，注气保护等方式，使样品达到制备要求。

Kubo-X1000比表面及孔径分析仪摆脱电脑控制，主机嵌入了更稳定的WINDOWS CE工控系统，给用户提供简洁明了的操作界面。键式启动，自动测试并存储数据，内置至少可用10年的存储空间。随时查看、调取以往数据，预留USB接口，即时导出并打印。控制界面可实时显示每个数据点的信息并预测下个数据点的位置，方便用户查看运行状态，实时显示运行进度。

Kubo-X1000比表面及孔径分析仪拥有更强大的控制系统，支持自定义分析模式（超微孔/微孔/介孔/比表面/常温反应）；支持自定义各模型的数据取点范围；支持自定义投气量；支持自定义吸/脱附平衡时间判定模式。方便用户扩展更丰富的测试应用。

■技术参数

1、测试功能：吸附及脱附等温线，BET/Langmuir比表面积，

BJH孔体积/孔面积/总孔容积/总孔面积分析，t-plot/MP/HK/SF/DR等微孔分析/可使用氩气或二氧化碳对特殊微孔样品进行分析

2、测试范围：比表面积≥0.0005m2/g；孔径分析0.35nm-500nm

3、测试精度：±1%（≤1m2/g的样品：±1.5%）

4、分析站：3个样品分析口，1个P0实时测试位

5、杜瓦瓶容积：4L

6、脱气站：独立3站智能型样品制备站，配置加热炉，温度上限400℃，配置独立机械泵和压力传感器，AI触控系统，可智能判定样品处理完成度 

7、压力检测系统：每个分析口配置进口多量程压力传感器,软件端可实时查看各位置压力值（传感器量程：0-0.1torr、0-10torr、0-1000torr），饱和蒸汽压测试位配置独立的压力传感器，对饱和蒸气压进行实时采集 

硬件系统控制：

1. 压力检测系统：进口多压力传感器进行分段测量，以保证P/P₀下限测试精度,为微孔的精确分析提供保障，压力测试范围为0-1Torr、0-10Torr、0-1000Torr，并配置独立压力传感器对饱和蒸汽压（P₀）进行实时探测。

2. 压力检测精度：读数精度的0.15％

3. 气路控制系统：应用真空抽气动态调速技术（I-PID）及锁闭式高真空模块

4. 分压范围：P/P₀ 3×10^－8－0.995（涡轮分子泵组及双极旋片机械泵）

5. 真空系统: 极限真空为1×10－6Pa（涡轮分子泵组）

6. 仪器控制系统：双控制系统,主机嵌入windows CE 触控系统,可与计算机系统共同控制仪器运行,并实时显示仪器运行状态,在无计算机情况下也可独立运行

7. 液位控制系统：自动用于不同温度的冷却剂，以保证整个分析过程冷却剂液面位置相对于被测样品始终不变，并引入温差校准补偿技术

8. 数据采集系统：高精度24位模数转换系统，拥有仪器意外断电数据存储功能

9. 样品筛选功能：可在测试进行中实时导出数据，进行数据和模型分析

10. 双分析模式：用户可选择两种分析技术，可进行免用氦气方式以降低分析成本，也可使用经典的氦气定量技术以保证分析精度

数据处理：BET比表面积/吸附及脱附等温线/BJH孔体积分析/孔面积分析/总孔容积/总孔面积/t-plot图法/MP法微孔分析/HK微孔孔径分布/FS微孔孔径分布/DR/Langmuir法比表面积分析