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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic Duo
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面议泰勒霍普森粗糙度仪标准型Surtronic S116
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面议德国 MarSurf PS10粗糙度仪/MAHR马尔
面议德国马尔MAHR 粗糙度仪Pocket Surf® IV
面议德国Mahr马尔 Perthometer M1粗糙度仪
面议 霍梅尔-艾达米克W10 -便携式粗糙度测量仪 | 上下文引导式操作通过触摸屏完成 |
横向探测 - 测头可回转90°, 用于沟纹和凹槽内或轴肩之间的测量 | |
一体化的V型槽 |
一体化的搁板和装载板 |
LV17进给单元 |
W10符合ISO 4287 DIN EN和其他国内和国际标准(ASME、DIN、JIS、Motif等)的要求。),适用于便携式粗糙度仪用于水平位置检测、架空位置和垂直位置的移动粗糙度测量。借助 W10测量仪,可以对工件进行无线测量,清晰的测量结果始终显示在宽大的触摸屏上。W10测量仪非常适合移动粗糙度测量,它可以让您在生产过程本身中监控工件的表面质量。这种实用的测量系统具有广泛的功能。它在横向检测期间以及在头顶和垂直位置提供可靠和精确的测量。集成的粗糙度标准支持快速测试和测量仪器,确保始终获得非常高的精度。
霍梅尔一埃达米克W10,商品号:W10主机、LV 17进给单元、粗糙度测头T1E、测头保护、用于直径大于10 mm的小型轴类、件的V型支撑块、USB电缆、电源适配器90-240V、粗糙度标准块、内六角扳手、厂方验收证书、粗糙度标准块数据纸、操作说明书、手提箱
Hommel-Etamic W10业纳霍梅尔表面粗糙度仪 | |
测量范围 | 320μm (-210/+110 μmm) |
测头 | 滑轨式感应测头T1E2 μm/90 |
测量单位 | μm/μinch 之间可选 |
测量长度 | 17.5mm |
ISO/JIS标准的探测距离 | 1.5/4.8/15mm |
MOTIF法的探测距离 | 0.64 /3.2 /16 mm |
截止波长 | 0.08 /0.25 /0.8 /2.5 mm |
取样长度数量 | 1至5之间选择 |
滤波器 | DIN EN ISO 11562标准: 高斯滤波器 DIN EN ISO 16610-21标准: 高斯滤波器 DIN EN IS0 13565-1标准: 用于Rk特性参数的滤波器 DIN EN ISO 3274标准: 入s滤波器 |
探测速度 | 0.15/0.5/1mm/s; 返回速度3mm/s |
DIN EN ISO 4827标准的特性参数 | Ra,Rz,Rmax,Rt,Rq,RSm,Rp,Rv,Rq,Rsk,Rku,Rdc,Rdq,RzIS0,Rmr,Rmr(c),C(Rmr),Pt,Pz Pa |
DIN EN I50 13565-1和-2标准的特性参数 | Rk.Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk*.Rvk* |
MOTIF ISO 12085标准的特性参数 | R,AR,Rx,CR,CL,Nr,CF |
ASMB46标准的特性参数 | Rpm |
IS B601(2001)标准的特性参数 | Rz-JIS |
DIN EN 10049标准的特性参数 | RPC |
戴姆勒MBN 31007标准的特性参数 | R3Z |
电池(主机) | 锂离子蓄电池,800 次测量(不含打印耗费的电量,探测距离4.8mm) |
测量程序 | 7个测量程序,1个用于检测测量仪的测量程序,2000个测量数据,500个轮廓数据集数据存储器 |
接口 | USB,蓝牙Bluetooth@ 技术 |