大功率半导体器件静态参数测试系统
大功率半导体器件静态参数测试系统

EN-30200大功率半导体器件静态参数测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-05-21 19:05:34
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产品简介

大功率半导体器件静态参数测试系统适合工厂、研究所用做半导体器件及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试,是一款针对大功率器件各种静态参数而研制的智能测试系统。

详细介绍

大功率半导体器件静态参数测试系统由计算机控制系统

计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元,设备有一部分的工作程序、工作时序、开关的动作状态,数据采集等均由计算机完成。计算机

采用研华工业控制机,具有抗电磁*力强,排风量大等特点。

计算机中,装有美国国家仪器公司生产的数据采集卡NI PCI6221卡2块,NI PCI6221是一块多功能的数据采集卡,具有三组数据端口,16/8个

模拟量输入端口,两个模拟量输出口、两个定时器计数器。

PLC控制系统

控制系统除工控机外,还采用了欧姆龙系列的PLC,PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制,并且与计算机进行通讯,完成了整个系统的自动控制功能;PLC不仅控制开关的动作,而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控,并与硬件进行互锁,实现了可靠的安全控制功能。

大功率半导体器件静态参数测试系统外形尺寸和电源要求

寸:  800×800×1800(mm)

量:  210kg

环境温度:15~40℃

工作电压:AC220V±10%无严重谐波

电网频率:50Hz±1Hz

通信接口:USB RS232

系统功耗:380W

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